[发明专利]多特征多级别的可见光全色与多光谱高精度配准方法有效
申请号: | 201210251487.1 | 申请日: | 2012-07-19 |
公开(公告)号: | CN102800098A | 公开(公告)日: | 2012-11-28 |
发明(设计)人: | 霍春雷;江碧涛;潘春洪;樊彬;张秀玲;杜鹃 | 申请(专利权)人: | 中国科学院自动化研究所;北京市遥感信息研究所 |
主分类号: | G06T7/00 | 分类号: | G06T7/00 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 宋焰琴 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本发明公开了一种可见光全色图像与多光谱图像的配准方法,包括如下步骤:对全色图像和多光谱图像进行多尺度分解,生成低分辨率的全色图像和多光谱图像;在所述低分辨率图像对上提取、匹配SIFT特征并去除外点,利用匹配的SIFT特征对和迭代重加权最小二乘法得到初始变换模型;在原始图像对上利用所述初始变换模型据提供的几何约束,进行基于图像块对的SIFT特征提取、匹配及外点去除,并在所有的SIFT特征对集合上选择最优的变换类型并利用迭代重加权最小二乘法求得变换参数;:根据所述变换模型对多光谱图像进行变换,得到变换后的多光谱图像。 | ||
搜索关键词: | 特征 多级 别的 可见光 全色 光谱 高精度 方法 | ||
【主权项】:
一种可见光全色图像与多光谱图像的配准方法,其特征在于,包括如下步骤:步骤S1、对全色图像和多光谱图像进行多尺度分解,生成低分辨率的全色图像和多光谱图像;步骤S2、在所述低分辨率图像对上提取、匹配SIFT特征并去除外点,利用匹配的SIFT特征对和迭代重加权最小二乘法得到初始变换模型;步骤S3、在原始图像对上利用所述初始变换模型据提供的几何约束,进行基于图像块对的SIFT特征提取、匹配及外点去除,并在所有的SIFT特征对集合上选择最优的变换类型并利用迭代重加权最小二乘法求得变换参数;步骤S4、根据所述变换模型对多光谱图像进行变换,得到变换后的多光谱图像。
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