[发明专利]找到连接孔顶部开路的方法有效
申请号: | 201210251892.3 | 申请日: | 2012-07-20 |
公开(公告)号: | CN103576039B | 公开(公告)日: | 2016-12-21 |
发明(设计)人: | 马香柏;曾志敏 | 申请(专利权)人: | 上海华虹宏力半导体制造有限公司 |
主分类号: | G01R31/02 | 分类号: | G01R31/02;G01R31/28 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司31211 | 代理人: | 丁纪铁 |
地址: | 201203 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 暂无信息 | 说明书: | 暂无信息 |
摘要: | 本发明公开了一种找到连接孔顶部开路的方法,包括步骤1、芯片开封,去除绝缘层,暴露导电互连线。步骤2、粘附芯片于基板。步骤3、将芯片研磨至关注的连接孔层次。步骤4、电压衬度分析,找出异常连接孔。步骤5、找出导致连接孔顶部开路的真正机理。采用本发明方法,能在不破坏顶部形貌的情况下,找到开路失效的位置。 | ||
搜索关键词: | 找到 连接 顶部 开路 方法 | ||
【主权项】:
一种找到连接孔顶部开路的方法,包括:步骤1、芯片开封,去除绝缘层,暴露导电互连线;步骤2、粘附芯片于基板;所述的基板为铜胶基板或者硅基板;步骤3、将芯片研磨至关注的连接孔层次;步骤4、电压衬度分析,找出异常连接孔;步骤5、找出导致连接孔顶部开路的真正机理。
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