[发明专利]基于二阶像差模型的投影物镜波像差检测方法有效

专利信息
申请号: 201210253385.3 申请日: 2012-07-20
公开(公告)号: CN102768474A 公开(公告)日: 2012-11-07
发明(设计)人: 杨济硕;王向朝;闫观勇;徐东波 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G01M11/02
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种基于二阶像差模型的投影物镜波像差检测方法,该方法利用主成分分析和多元线性回归分析的方法,建立了空间像光强分布与泽尼克系数之间的二阶关系模型,并利用非线性最小二乘法,优化算得表征投影物镜成像质量的波像差值。与基于空间像主成分分析的线性关系模型(AMAI-PCA)相比,本发明拓展了测量像差的幅值范围,当波像差幅值相等时,本发明拥有更高的测量精度。
搜索关键词: 基于 二阶像差 模型 投影 物镜 波像差 检测 方法
【主权项】:
1.一种基于二阶像差模型的光刻机投影物镜波像差检测方法,该方法利用的系统包括:产生照明光束的照明光源(1);能调整照明光源(1)发出光束的束腰尺寸,光强分布,部分相干因子和照明方式的照明系统(2);能承载测试掩模(3)并拥有精确步进和定位能力的掩模台(4);能将测试掩模(3)上的检测标记(5)按照一定比例缩放成像的投影物镜(6);能精确步进和定位的工件台(7);安装在工件台(7)上的用于采集检测标记(5)所成空间像的图像传感装置(8);与所述图像传感装置相连的用于光刻机控制,数据采集和处理的计算机(9);其特征在于:所述的检测标记(5)是孤立线、孤立空、或中线宽于边线的3线或5线检测标记,包含0°和90°两个方向的检测标记;该方法包括如下步骤:①建立仿真空间像训练库SAIB:首先,按照Box_Behnken design的采样方式,以下简称BBdesign,要求每个设计变量只有0,±1三种可能取值,每个采样组合,只有两个设计变量不为0,设计泽尼克系数训练库ZB:ZB=A·BBdesign(ZN),ZN=3,4,…,33,其中,A是泽尼克系数的变化范围,在0至0.2范围内取值,单位是λ,λ表示照明光源的波长;ZN表示泽尼克系数训练库模型选用的泽尼克系数的个数,因为BBdesign理论上可以设计变量个数要求大于等于3,而本方法可以求解Z5至Z37共33项泽尼克系数,所以ZN的取值是3到33的整数;所述的ZB是一个N行ZN列的矩阵,N是一个与ZN相关的量,ZB的每一行表示一组训练用的泽尼克系数;然后,将ZB逐行输入光刻仿真软件PROLITH的光瞳函数中,再设定PROLITH的各项参数,包括照明光源的波长、照明方式及部分相干因子、投影物镜的数值孔径、空间像的采样范围、采样点数;将0°检测标记仿真成像在F-X平面,得到空间像其中,上标0表示0°方向检测标记,下标j表示ZB的第j行,也即第j幅空间像,同法,将90°方向检测标记仿真成像在F-Y平面,得到空间像最后,将所有空间像按照下式排列组和成仿真空间像训练库SAIB:SAIB=ai10ai20···aij0···aiN0ai190ai290···aij90···aiN90;]]>②建立仿真空间像训练库SAIB与二阶泽尼克系数训练库QZB之间的线性关系模型,也就是仿真空间像训练库SAIB与泽尼克系数训练库ZB之间的二阶关系模型:该模型包含主成分矩阵PCM和二阶泽尼克回归矩阵QZRM;首先,根据主成分分析方法的原理,将空间像这种多像素点的变量集合转化为一组正交矢量来表示,以下简称princomp,对仿真空间像训练库SAIB进行主成分分析:[PCC,PCCM]=princomp(SAIB),得到SAIB的主成分系数PCC和主成分矩阵PCM,它们之间的关系是:SAIB=PCM·PCC;其中,PCM是由N个主成分pcj按照下式组成的矩阵,pcj是列向量:PCM=[pc1 pc2…pcj…pcN],然后,根据ZB构造二阶泽尼克系数训练库QZB,QZB的结构包括常数项,泽尼克系数的线性项,泽尼克系数的二阶项,其中二阶项包括交叉项和平方项:QZB=[One,ZB,ZB2],其中,One是N维列向量,元素均为1,ZB2表示ZB的二阶项,其具体构造算法是:ZB2=[ZB1×ZB2 ZB1×ZB3…ZB2×ZB3…ZBZN-1×ZBZN ZB1×ZB1 ZB2×ZB2…ZBZN×ZBZN],其中,ZB1表示ZB的第一列,ZB2表示ZB的第二列,以此类推;再按照下列各式,对PCC进行多元线性回归分析运算,以下简称regress,建立从主成分系数PCC到二阶泽尼克系数训练库QZB的二阶泽尼克回归矩阵QZRM:[rmj,Rj2]=regress(PCCj,QZBj),]]>j=1,2,…,N,QZRM=rm1rm2···rmj···rmN,]]>其中,N是仿真空间像训练库SAIB中空间像的个数,PCCj表示第j幅空间像的主成分系数,QZBj表示第j幅空间像的二阶泽尼克系数组合,是QZB的第j行,rmj是行向量,表示从PCCj到QZBj的回归系数向量,所有N个回归系数向量就组成二阶泽尼克回归矩阵QZRM,表示第j个回归系数向量rmj的拟合优度,用于评估rmj的拟合质量;它们之间的关系是:PCC=QZRM·QZB;于是,仿真空间像训练库SAIB与二阶泽尼克系数训练库QZB之间的线性关系模型可以表示为:SAIB=PCM·QZRM·QZB;③采集实测空间像RAI:运行光刻机配套的伺服软件,按照步骤①中生成仿真空间像训练库SAIB时使用的参数条件设置光刻机的各项参数,包括照明光源的波长、照明方式及部分相干因子、投影物镜的数值孔径、空间像的采样范围、采样点数以及空间像采样的视场点位置;运行空间像采集程序,图像传感装置(8)对检测标记(5)经过光学系统投影下来的空间像进行采集,采集得到含有空间像信息的机器数据,经过计算机(9)的数据处理,生成矩阵形式的空间像数据,即为实测空间像RAI;④使用二阶模型求解实测空间像RAI得到实测泽尼克系数RZC:首先,从QZRM中选取拟合优度大于0.9999的S个拟合质量好的回归系数向量rmj以及S个与rmj下标对应的主成分pcj,将S个rmj和pcj分别抽出,按原下标从小到大的顺序重新排序为1~S,为了与原下标区分,新下标用i表示,使用最小二乘法,对实测空间像RAI进行主成分分解得到实测主成分系数RPCC:RPCCi=(pciT·pci)-1·(pciT·RAI),]]>i=1,2,…,S,其中,是pci的转置,RPCCi表示RAI的第i个主成分系数;然后,根据S个实测主成分系数和S个回归系数向量构造S个误差方程:er1=rm1·RZC-RPCC1er2=rm2·RZC-RPCC2er3=rm3·RZC-RPCC3,………………………ers=rms·RZC-RPCCs根据误差方程建立优化算法的评估函数CF:CF=er12+er22+er32+···+erS2;]]>最后,根据非线性最小二乘法,以下简称lsqnonlin,原则是以误差的平方和最小为优化的目标,优化解得表征投影物镜成像质量的实测泽尼克系数RZC:RZC=lsqnonlin(CF,SV),其中,SV是优化算法lsqnonlin的初始值,或ZN维的零向量,或是使用线性模型计算得到的ZN维泽尼克系数值。
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