[发明专利]基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统无效
| 申请号： | 201210253425.4 | 申请日： | 2012-07-20 |
| 公开（公告）号： | CN102768336A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 朱洪宇;李慧云;徐国卿 | 申请（专利权）人： | 中国科学院深圳先进技术研究院 |
| 主分类号： | G01R31/3181 | 分类号： | G01R31/3181;G01R31/3183 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 吴平 |
| 地址： | 518055 广东省深圳*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 一种基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统，包括：波形发生器，用于生成测试用电压激励信号；波形控制器，与波形发生器相连接，用于接收并处理测试用电压激励信号，输出波形参数可控的数字量激励信号；数模转换器，用于接收数字量激励信号并将数字量激励信号转换为模拟量激励信号；待测模数转换器，用于将模拟量激励信号转换为数字序列并将数字序列输送至波形控制器；以及处理器，与波形控制器相连接，用于向波形控制器输入控制数字量激励信号波形参数的指令、通过波形控制器采集数字序列并转换为直方图数据进行保存。上述基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统，减少了片内集成的器件，占用芯片空间较小，增加了系统的可靠性。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 系统 封装 测试 | ||
【主权项】：
一种基于片上系统或系统级封装的内建自测试系统，其特征在于，包括：波形发生器，用于生成测试用电压激励信号；波形控制器，与所述波形发生器相连接，用于接收并处理所述测试用电压激励信号，输出波形参数可控的数字激励信号；数模转换器，与所述波形控制器耦接，用于接收所述数字量激励信号并将所述数字量激励信号转换为模拟量激励信号；待测模数转换器，与所述数模转换器耦接，用于将所述模拟量激励信号转换为数字序列并将所述数字序列输送至所述波形控制器；以及处理器，与所述波形控制器相连接，用于向所述波形控制器输入控制所述数字量激励信号波形参数的指令、通过所述波形控制器采集所述数字序列并转换为直方图数据进行保存。
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