[发明专利]应用X荧光粉末压片法测定萤石中组分含量的方法无效
| 申请号： | 201210255337.8 | 申请日： | 2012-07-23 |
| 公开（公告）号： | CN102809578A | 公开（公告）日： | 2012-12-05 |
| 发明（设计）人： | 马爱方;冯士娟;郑连杰;左丽峰;陈剑;刘宾;商英;黄泽林;马永昌;周冀锋;刘志宏;赵超;高小飞 | 申请（专利权）人： | 河北钢铁股份有限公司邯郸分公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223;G01N1/28 |
| 代理公司： | 石家庄冀科专利商标事务所有限公司 13108 | 代理人： | 曹淑敏 |
| 地址： | 056015 *** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种应用X荧光粉末压片法测定萤石中组分含量的方法，该方法步骤为：（1）用萤石标准样品与粘结剂压制成一组有适当CaF2梯度含量的标准样品压片；（2）将待测样品与粘结剂压制成待测样品压片；（3）利用X荧光光谱仪分析标准样品压片，分析完毕后通过增强吸收及谱线重叠干扰的扣除后，得到线性回归分析曲线；然后选用该工作曲线进行待测样品压片的测定，根据分析谱线强度与浓度的对应关系，计算出萤石多种组分的含量；（4）上述将标准样品压片和待测样品压片的压制方法为：萤石标准样品和待测萤石样品分别与粘结剂混合均匀后研磨，然后过300目筛，最后压片机中分别压成片样。本方法快速准确，降低了检验成本，大大提高了检验效率。 | ||
| 搜索关键词： | 应用 荧光 粉末 压片 测定 萤石 组分 含量 方法 | ||
【主权项】：
一种应用X荧光粉末压片法测定萤石中组分含量的方法，其特征在于，该方法步骤为：（1）用萤石标准样品与粘结剂压制成一组有适当CaF2梯度含量的标准样品压片；（2）将待测样品与粘结剂压制成待测样品压片；（3）利用X荧光光谱仪分析标准样品压片，分析完毕后通过增强吸收及谱线重叠干扰的扣除后，得到线性回归分析曲线；然后选用该工作曲线进行待测样品压片的测定，根据分析谱线强度与浓度的对应关系，计算出萤石多种组分的含量；（4）上述将标准样品压片和待测样品压片的压制方法为：萤石标准样品和待测萤石样品分别与粘结剂混合均匀后研磨，然后过300目筛，最后压片机中分别压成片样。
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