[发明专利]大口径碟式抛物曲面反射镜的检测控制方法、系统无效

专利信息
申请号: 201210256096.9 申请日: 2012-07-23
公开(公告)号: CN102749060A 公开(公告)日: 2012-10-24
发明(设计)人: 马迎召;谭新华;朱楷;刘帅;党安旺 申请(专利权)人: 湘电集团有限公司
主分类号: G01B21/20 分类号: G01B21/20;G01M11/02;G05D3/12
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 魏晓波
地址: 411101 *** 国省代码: 湖南;43
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摘要: 发明公开了一种大口径碟式抛物曲面反射镜的检测控制方法,包括如下步骤:1)确定所述抛物曲面反射镜的数学模型;2)预设本次测量参数,根据所述数学模型和所述预设参数获取所述抛物曲面反射镜的理想三维模型,并获取所述三维模型中采样点的理想坐标;3)检测所述抛物曲面反射镜在所述采样点的实际坐标;4)根据所述采样点的实际坐标重构所述抛物曲面反射镜的实际三维模型,分析所述理想三维模型和所述实际三维模型,获取所述抛物曲面反射镜的曲面精度。这种方法能够通过简单便捷的操作获取抛物曲面反射镜的曲面精度,具有较高的效率。本发明还公开了一种大口径碟式抛物曲面反射镜的检测控制系统。
搜索关键词: 口径 碟式抛物 曲面 反射 检测 控制 方法 系统
【主权项】:
一种大口径碟式抛物曲面反射镜的检测控制方法,其特征在于,包括如下步骤:1)确定所述抛物曲面反射镜的数学模型;2)预设本次测量参数,根据所述数学模型和所述预设参数获取所述抛物曲面反射镜的理想三维模型,并获取所述三维模型中采样点的理想坐标;3)检测所述抛物曲面反射镜在所述采样点的实际坐标;4)根据所述采样点的实际坐标重构所述抛物曲面反射镜的实际三维模型,分析所述理想三维模型和所述实际三维模型,获取所述抛物曲面反射镜的曲面精度。
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