[发明专利]继电保护装置校验仪检定装置和检定系统无效

专利信息
申请号: 201210258802.3 申请日: 2012-07-24
公开(公告)号: CN103576117A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 王金焕;张昌斌;晋文杰;孟颖;杨清华;王诚海 申请(专利权)人: 国家电网公司;北京市电力公司;南昌市凌瑞电子有限公司
主分类号: G01R35/00 分类号: G01R35/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;余刚
地址: 100031 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种微机型继电保护装置校验仪检定装置和检定系统。该检定装置包括电压校验模块,与继电保护装置校验仪的电压回路并联,用于校验继电保护装置校验仪输出的各个电压参数;电流校验模块,与继电保护装置校验仪的电流回路串联,用于校验继电保护装置校验仪输出的各个电流参数;以及时钟模块,与继电保护装置校验仪的开入量回路并联,用于校验继电保护装置校验仪CPU的时间晶振和毫秒计的时间参数。通过本发明,能够同时检定继电保护装置校验仪的电压参数精度、电流参数精度以及时间精度,缩短了检定时间,无需多次接线,避免了接线错误。
搜索关键词: 保护装置 校验 检定 装置 系统
【主权项】:
一种微机型继电保护装置校验仪检定装置,其特征在于,包括:电压校验模块,与继电保护装置校验仪的电压回路并联,用于校验所述继电保护装置校验仪输出的各个电压参数;电流校验模块,与所述继电保护装置校验仪的电流回路串联,用于校验所述继电保护装置校验仪输出的各个电流参数;以及时钟模块,与所述继电保护装置校验仪的开入量回路并联,用于校验所述继电保护装置校验仪CPU的时间晶振和毫秒计的时间参数。
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