[发明专利]组合式射线无损检测方法及系统有效
| 申请号： | 201210261284.0 | 申请日： | 2012-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102768219A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 吴志芳;安继刚;刘锡明;王立强;张颜民;丛鹏;黄毅斌;裘伟东;郑健;刘金汇;王振涛;谈春明 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04 |
| 代理公司： | 北京中创阳光知识产权代理有限责任公司 11003 | 代理人： | 尹振启 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种组合式射线无损检测方法及系统，该方法及系统将g射线源和X射线源与固体线阵探测器、气体线阵探测器及面阵探测器分别借助射线源支架和探测器支架集成在一个刚性基座上，通过不同射线源与不同探测器的组合，分别进行DR扫描成像和断层或锥束CT成像，实现对工件的多能量段、多模式组合检测，能同时满足高检测分辨率、高探测灵敏度、较强的射线穿透能力和良好的长期稳定性等检测要求，可应用于国防、航空航天、工业和科研等领域的高精度射线无损检测。 | ||
| 搜索关键词： | 组合式 射线 无损 检测 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种组合式射线无损检测方法，该方法利用射线对待检测工件进行照射，利用探测器接收穿过工件的射线，并转换成数字信号，然后通过对所述信号进行处理，得到工件的辐射图像，其特征在于：‑射线源采用包含g射线源和X射线源的组合式射线源，探测器采用包含固体线阵探测器、气体线阵探测器和面阵探测器的组合式探测器，通过切换不同的射线源和探测器组成不同的检测单元，实现对工件的DR扫描成像或断层CT成像或锥束CT成像；‑所述组合式射线源和组合式探测器，以及装卡工件的工件转台均安装固定在同一刚性基座上。
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