[发明专利]信号采样测试方法有效
| 申请号： | 201210261988.8 | 申请日： | 2012-07-26 |
| 公开（公告）号： | CN102749509A | 公开（公告）日： | 2012-10-24 |
| 发明（设计）人： | 王磊 | 申请（专利权）人： | 上海宏力半导体制造有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/02 | 分类号： | G01R23/02 |
| 代理公司： | 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 | 代理人： | 郑玮 |
| 地址： | 201203 上海市浦*** | 国省代码： | 上海;31 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明提供了一种信号采样测试方法。根据本发明的信号采样测试方法包括：第一步骤：检测作为待采样信号的正弦信号的起点，以便测试机与正弦信号进行定时同步；第二步骤：利用所述测试机随机产生多个周期性脉冲采样信号，其中所述多个周期性脉冲采样信号中的每一个周期性脉冲采样信号都是单独产生的，并且利用所述多个周期性脉冲采样信号来对所述待采样信号进行采样，从而得到离散的采样值；以及第三步骤：将所述多个周期性脉冲采样信号对所述待采样信号采样而得到的离散采样值进行组合以获取最终对所述待采样信号的最终采样离散值。由此，本发明提供一种能够扩大测试机所能实现的采样的范围的信号采样测试方法。 | ||
| 搜索关键词： | 信号 采样 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种信号采样测试方法，其特征在于包括：第一步骤：检测作为待采样信号的正弦信号的起点，以便测试机与正弦信号进行定时同步；第二步骤：利用所述测试机随机产生多个周期性脉冲采样信号，其中所述多个周期性脉冲采样信号中的每一个周期性脉冲采样信号都是单独产生的，并且利用所述多个周期性脉冲采样信号来对所述待采样信号进行采样，从而得到离散的采样值；以及第三步骤：将所述多个周期性脉冲采样信号对所述待采样信号采样而得到的离散采样值进行组合以获取最终对所述待采样信号的最终采样离散值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海宏力半导体制造有限公司，未经上海宏力半导体制造有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210261988.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
