[发明专利]改进型检测设备有效
| 申请号： | 201210262486.7 | 申请日： | 2012-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN102759710A | 公开（公告）日： | 2012-10-31 |
| 发明（设计）人： | 胡小青 | 申请（专利权）人： | 苏州贝腾特电子科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/327 | 分类号： | G01R31/327 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 215121 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种改进型检测设备，包括交流电源电路、具有第一半波整流电路的相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路；第一半波整流电路由电阻R50、R51、R52、R53、R54、R55、R56、R57、R58、R59、R60、R61，二极管D37，三极管BG17、BG18，双向可控硅BG19，运算放大器IC3，光耦芯片IC4构成。本发明结构较为合理，能够满足使用者的特殊需求。 | ||
| 搜索关键词： | 改进型 检测 设备 | ||
【主权项】：
一种改进型检测设备，包括交流电源电路(1)、相位产生电路(2)、交流漏电调节电路(3)和时间检测电路(4)；其特征在于：相位产生电路(2)包括电流滞后电压0°的第一半波整流电路；所述第一半波整流电路由电阻R50、R51、R52、R53、R54、R55、R56、R57、R58、R59、R60、R61，二极管D37，三极管BG17、BG18，双向可控硅BG19，运算放大器IC3，光耦芯片IC4构成；二极管D51的正极端与相位显示电路中的三极管BG22的e极相连，二极管D51的负极端与电阻R75的一端相连，电阻R75的另一端与三极管BG28的b极相连，光耦芯片IC7的2脚与三极管BG28的c极相连，三极管BG28的e极与稳压管BG21的2脚相连；电阻R74的一端与稳压管BG21的3脚相连，光耦芯片IC7的4、6脚分别与按钮开关SB3中间触点SB3‑21、常开触点SB3‑22相连。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州贝腾特电子科技有限公司，未经苏州贝腾特电子科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210262486.7/，转载请声明来源钻瓜专利网。
