[发明专利]测试设备

摘要

本发明涉及一种测试设备，包括交流电源电路、相位产生电路、交流漏电调节电路和时间检测电路；相位产生电路包括第三半波整流电路；第三半波整流电路包括：由变压器T2、二极管D5、电阻R3、R5、R6、R7和运算放大器IC1A构成的正弦波整形成电路，与运算放大器IC1A的输出端相连的由电阻R8、电容C5构成的充电电路，由二极管D6、D7构成的与门；用来设定相对于电流滞后电压135°的整定电压的电阻R9和R10，用来调节运算放大器IC1B的反向端比较电压的电阻R11和电位器WR1，运算放大器IC1B的输出端用于输出电流滞后电压135°的控制信号。本发明结构较为合理，能够满足使用者的特殊需求。

主权项

一种测试设备，包括交流电源电路(1)、相位产生电路(2)、交流漏电调节电路(3)和时间检测电路(4)；其特征在于：相位产生电路(2)包括电流滞后电压135°的第三半波整流电路；所述第三半波整流电路包括：由变压器T2、二极管D5、电阻R3、R5、R6、R7和运算放大器IC1A构成的正弦波整形成电路，与运算放大器IC1A的输出端相连的由电阻R8、电容C5构成的充电电路，由二极管D6、D7构成的与门；用来设定相对于电流滞后电压135°的整定电压的电阻R9和R10，用来调节运算放大器IC1B的反向端的相对于电流滞后电压135°的比较电压的电阻R11和电位器WR1，运算放大器IC1B的输出端用于输出电流滞后电压135°的控制信号。