[发明专利]光掩模及曝光装置在审
申请号: | 201210262534.2 | 申请日: | 2012-07-26 |
公开(公告)号: | CN102902155A | 公开(公告)日: | 2013-01-30 |
发明(设计)人: | 野村义昭;竹下琢郎;桥本和重 | 申请(专利权)人: | 株式会社V技术 |
主分类号: | G03F1/38 | 分类号: | G03F1/38;G03F7/20 |
代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 樊建中 |
地址: | 日本国*** | 国省代码: | 日本;JP |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种光掩模及曝光装置。光掩模(9)在同一掩模基板(10)上将掩模图案不同的多种图案区域(11)按照其中心轴相互平行的方式排列设置,并具备:在与各所述图案区域(11)的所述中心轴交叉的方向上,在与各中心轴偏离一定距离的位置处,分别按照纵长中心轴与所述中心轴平行的方式设置的细长状的多个开口部(12);和在各所述开口部(12)内分别为了辨别所述掩模图案而设置的、与所述纵长中心轴交叉的至少一条细线状的辨别用标记(13),将各所述开口部(12)内的辨别用标记(13)分别设置在各所述开口部(12)的纵长中心轴上的不同位置。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 曝光 装置 | ||
【主权项】:
一种光掩模,具有在掩模基板上将多个掩模图案至少排成一列而形成的图案区域,所述光掩模的特征在于,具备:在与所述多个掩模图案的排列方向交叉的方向上,在与所述图案区域的中心轴偏离一定距离的位置处,按照纵长中心轴与所述中心轴平行的方式设置的细长状的开口部;和在所述开口部内为了将所述掩模图案与其他掩模基板上形成的不同种类的掩模图案辨别开而设置的、与所述纵长中心轴交叉的至少一条细线状的辨别用标记,将所述辨别用标记设置在所述开口部的纵长中心轴上的与所述不同种类的掩模图案的辨别用标记不同的位置。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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