[发明专利]一种炮检距属性均匀性的确定方法有效

专利信息
申请号: 201210264204.7 申请日: 2012-07-27
公开(公告)号: CN103576213A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 许银坡;蒋先艺;彭文;郭武 申请(专利权)人: 中国石油天然气集团公司;中国石油集团东方地球物理勘探有限责任公司
主分类号: G01V13/00 分类号: G01V13/00
代理公司: 北京市中实友知识产权代理有限责任公司 11013 代理人: 刘天语;任洁
地址: 100007 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及石油地球物理勘探采集技术,是一种炮检距属性均匀性的确定方法。首先计算观测系统每个面元内各个炮检距的非均匀性系数,然后对未达到满覆盖次数的面元补充成满覆盖次数,再计算每个面元炮检距的平均非均匀性系数,最后利用观测系统中所有面元炮检距的平均非均匀性系数计算观测系统的面元炮检距均匀性分布的标准系数。本发明充分考虑了炮检距对面元的影响,使观测系统炮检距属性均匀性分析方法更加简单准确,并依此定量地选择最优的观测系统,减少了在选择合理观测系统方案上的工作量。
搜索关键词: 一种 炮检距 属性 均匀 确定 方法
【主权项】:
1.一种炮检距属性均匀性的确定方法,特点是通过以下步骤实现:1)采集工区的地质数据,收集已知工区的地质参数,根据地质任务确定观测系统参数,用常规方法设计一种以上的观测系统,分别得到面元覆盖次数、炮检距序列;2)对任一观测系统,利用面元的炮检距序列和面元覆盖次数用下式计算第j个面元的第k个理论炮检距bkbk=mj+(k-1)*Mji;---(1)]]>式中:j为目的层上的面元号,i为第j个面元的覆盖次数,k为第j个面元的第k次覆盖,也是第j个面元第k个炮检距,1≤k≤i,mj为第j个面元炮检距序列中的最小炮检距,Mj为第j个面元炮检距序列中的最大炮检距;3)第j个面元中第k炮检距对应的非均匀性系数Tj,k为:Tj,k=|1-Δhj,k*iMj(1+λk)2|(1+λk)2,(k=1,2,...,i)---(2)]]>式中:j为目的层上的面元号,i为第j个面元的覆盖次数,k为第j个面元的第k次覆盖,也是第j个面元第k个炮检距,1≤k≤i,Mj为第j个面元炮检距序列中的最大炮检距,Δhj,k为第j个面元炮检距序列第k个相邻道的变化量;λk的整数部分,Δbk为第j个面元炮检距序列中的第k个炮检距与第k个理论炮检距差的绝对值;4)对于任一个第j个面元,如果第j个面元的第k个炮检距非均匀性系数Tj,k小于1,用作为新的第k个炮检距非均匀性系数,如果第j个面元第k个炮检距非均匀性系数Tj,k不小于1,用作为新的第k个炮检非均匀性系数,用新生成的面元炮检距非均匀性系数计算第j个面元内所有炮检距非均匀性系数的和E[j];式中:j为目的层上的面元号,k为第j个面元的第k次覆盖,也是第j个面元第k个炮检距;5)对任意的第j个面元,利用步骤4)中第j个面元炮检距非均匀性系数的和E[j]与设计的观测系统方案的满覆盖次数Z,用下式重新计算第j个面元内所有炮检距非均匀性系数的和:E[j]=E[j]*Zi---(3)]]>再计算第j个面元炮检距的平均非均匀性系数:式中:j为目的层上的面元号,Z为设计观测系统的满覆盖次数,i为第j个面元的覆盖次数;6)利用所有面元炮检距的平均非均匀性系数和所有面元炮检距的平均非均匀性系数和的平均值对步骤1)设计的每一种观测系统的炮检距分布按照下式进行均匀性计算,得到观测系统的面元炮检距均匀性分布的标准系数η:η=Σj=1N(R[j]-S)2NS---(5)]]>式中:为所有面元炮检距的平均非均匀性系数和的平均值;N为目的层上的面元数,j为目的层上的面元号,R[j]为步骤5)中的第j个面元内炮检距的平均非均匀性系数;选择面元炮检距均匀性分布的标准系数η最小的观测系统为最优观测系统方案,并应用于实际工区勘探。
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