[发明专利]半导体器件有效

专利信息
申请号: 201210265327.2 申请日: 2012-07-25
公开(公告)号: CN102903719A 公开(公告)日: 2013-01-30
发明(设计)人: 森本薰夫;前田德章;岛崎靖久 申请(专利权)人: 瑞萨电子株式会社
主分类号: H01L27/11 分类号: H01L27/11;G11C11/412
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;边海梅
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 公开了一种半导体器件。更具体地,公开了一种具有SRAM的半导体器件,包括:单块的第一有源区域,第一晶体管和第五晶体管布置在该第一有源区域中;与第一有源区域分离的第二有源区域,第二晶体管布置在该第二有源区域中;单块的第三有源区域,第三晶体管和第六晶体管布置在该第三有源区域中;以及与第三有源区域分离的第四有源区域,第四晶体管布置在该第四有源区域中。每个驱动晶体管被划分为第一晶体管和第二晶体管(或者第三晶体管和第四晶体管),并且这些驱动晶体管布置在不同的有源区域之上。
搜索关键词: 半导体器件
【主权项】:
一种半导体器件,包括:存储器单元,包括:(a1)第一导电类型的第一MIS晶体管,耦合在第一电压和第一节点之间;(a2)第二导电类型的第一MIS晶体管,耦合在所述第一节点和不同于所述第一电压的第二电压之间;(a3)第二导电类型的第二MIS晶体管,与所述第二导电类型的第一MIS晶体管并联地耦合在所述第一节点和所述第二电压之间;(a4)第一导电类型的第二MIS晶体管,耦合在所述第一电压和第二节点之间;(a5)第二导电类型的第三MIS晶体管,耦合在所述第二节点和所述第二电压之间;(a6)第二导电类型的第四MIS晶体管,与所述第二导电类型的第三MIS晶体管并联地耦合在所述第二节点和所述第二电压之间;(a7)第二导电类型的第五MIS晶体管,耦合在所述第一节点和第一位线之间;以及(a8)第二导电类型的第六MIS晶体管,耦合在所述第二节点和第二位线之间,所述器件进一步包括:(b1)单块的第一有源区域,所述第二导电类型的第一MIS晶体管和所述第二导电类型的第五MIS晶体管布置在所述第一有源区域中;(b2)与所述第一有源区域分离的第二有源区域,所述第二导电类型的第二MIS晶体管布置在所述第二有源区域中;(b3)单块的第三有源区域,所述第二导电类型的第三MIS晶 体管和所述第二导电类型的第六MIS晶体管布置在所述第三有源区域中;以及(b4)与所述第三有源区域分离的第四有源区域,所述第二导电类型的第四MIS晶体管布置在所述第三有源区域中,其中所述第一有源区域至所述第四有源区域沿第一方向并排设置并且相互分离;其中第一栅极布线在所述第一有源区域之上沿所述第一方向延伸;其中第二栅极布线在所述第一有源区域和所述第二有源区域之上沿所述第一方向延伸;其中第三栅极布线在所述第三有源区域之上沿所述第一方向延伸;以及其中第四栅极布线在所述第三有源区域和所述第四有源区域之上沿所述第一方向延伸。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于瑞萨电子株式会社,未经瑞萨电子株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210265327.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top