[发明专利]一种互补测量的单光子计数成像系统及方法有效
| 申请号： | 201210265434.5 | 申请日： | 2012-07-27 |
| 公开（公告）号： | CN102768070A | 公开（公告）日： | 2012-11-07 |
| 发明（设计）人： | 翟光杰;王超;赵清;俞文凯;刘雪峰 | 申请（专利权）人： | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
| 主分类号： | G01J3/28 | 分类号： | G01J3/28 |
| 代理公司： | 北京法思腾知识产权代理有限公司 11318 | 代理人： | 杨小蓉;杨青 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供一种互补测量的单光子计数成像系统及方法，该系统由光学成像部件、空间光调制器、两组会聚收光部件、可见光单光子点探测器、近红外光单光子点探测器和多通道计数器组成。该方法包括以下步骤：将携带物体信息的光成像在空间光调制器上，将图像中可见光和近红外光成分分别看成一维列向量，空间光调制器通过测量矩阵对其调制，反射至两臂方向，经会聚后，分别由可见光单光子点探测器和近红外光单光子点探测器进行双臂探测，光子计数作为测量值，根据两臂矩阵互补特性，用关联的压缩传感算法同时重建出可见光和近红外光的灰度图像。这种互补探测、以点采样获取平面信息的方法能极大提高光通量、信噪比，减少测量规模，达到理想的成像效果。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 互补 测量 光子 计数 成像 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种互补测量的单光子计数成像系统，其特征在于，所述系统包括：光学成像部件、空间光调制器、第一会聚收光部件、第二会聚收光部件、可见光单光子点探测器、近红外光单光子点探测器和多通道计数器；极弱光经所述光学成像部件成像在所述空间光调制器上，所述空间光调制器向两臂方向反光；其中，第一臂反射方向设置有第一会聚收光部件和可见光单光子点探测器，第二臂方向设置有第二会聚收光部件和近红外光单光子点探测器，同时探测两个方向上的光子，其总光子数分别记录在多通道计数器的两个计数通道中，根据互补矩阵和计数值分别恢复可见光和近红外光的灰度图像。
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