[发明专利]一种非完整凹球面球径尺寸的准确测量方法在审

专利信息
申请号: 201210265554.5 申请日: 2012-07-27
公开(公告)号: CN102878967A 公开(公告)日: 2013-01-16
发明(设计)人: 陈建元 申请(专利权)人: 中国航空工业集团公司北京航空精密机械研究所
主分类号: G01B21/10 分类号: G01B21/10
代理公司: 中国航空专利中心 11008 代理人: 李建英
地址: 100076 北*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明属于测量技术,涉及一种能够快速简捷测量表面并非完整的凹球面的球径检测方法。本发明根据非完整凹球面球径的准确测量要求,提出一种非完整凹球面球径的准确检测算法及一种快速测量方法,是将直径尺寸大于非完整凹球面球径尺寸的标准球头样板放置在非完整凹球面所在表面棱边之上,通过测量标准球头样板最高点至非完整凹球面所在平面的高度尺寸、非完整凹球面最低点至非完整凹球面所在平面的深度尺寸,结合标准球头样板的直径尺寸,计算得到非完整凹球面结构的球径准确数值。该测量方法简单,操作方便,便于检验员准确判断非完整凹球面的球径是否符合图纸要求,并准确测量出非完整凹球面球径的实际加工数据。
搜索关键词: 一种 完整 球面 尺寸 准确 测量方法
【主权项】:
一种非完整凹球面球径尺寸的准确测量方法,其特征是,检测步骤如下:(1)将非完整凹球面结构2置于水平台面8上,使非完整凹球面的上端面6与水平台面8平行,根据被测非完整凹球面结构4的球径ФD,选择标准球头样板1,将标准球头样板1置于被测非完整凹球面4与其所在表面6所形成的棱边3之上,标准球头样板1的直径ФD’大于被测非完整凹球面球径ФD2~ФD5mm;(2)测量标准球头样板1的最高点5至非完整凹球面端面6的高度H’;(3)测量非完整凹球面端面6至非完整凹球面的最低点处7的深度H;(4)将标准球头样板1的直径ФD’、标准球头样板1的最高点5至非完整凹球面端面6的高度H’输入计算机,利用弦长 S = 2 ( Φ D 2 ) 2 - ( H - Φ D 2 ) 2 求得非完整凹球面的弦长S,再将弦长S和非完整凹球面端面6至非完整凹球面的最低点7处的深度H输入计算机中,利用 ΦD = ( 2 ( Φ D 2 ) 2 - ( H - Φ D 2 ) 2 ) 2 4 H + H 求出被测非完整凹球面结构4的球径ФD。
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