[发明专利]用于检验处理电子器件的设备、方法和计算机程序产品无效
| 申请号： | 201210269961.3 | 申请日： | 2012-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN102914736A | 公开（公告）日： | 2013-02-06 |
| 发明（设计）人： | D.加莱恩 | 申请（专利权）人： | 西门子公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00;A61B6/03 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 11105 | 代理人： | 谢强 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及一种用于检验处理电子器件（19）、尤其是计算机断层造影设备的检测器模块的设备（1，1′）。该设备包括：在运行中定义测试流程和/或进一步处理来自测试流程的结果数据（ED，EDa，EDb）的至少一个处理中心（5）；与处理中心相连接的流程单元（23），其在运行中在从处理中心接收测试流程的定义之后独立地执行这些测试流程并且其与用于接触处理电子器件的接触设备（21）耦合；将测试信号(TS)导入处理逻辑器（19）的信号发生器（7）；以及至少一个触发单元（13，13a，13b），其在运行中实时地将通过流程单元执行的测试流程的开始与通过信号发生器对测试信号的导入相互同步。此外本发明涉及一种用于检验这种处理电子器件的方法。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检验 处理 电子器件 设备 方法 计算机 程序 产品 | ||
【主权项】：
一种用于检验处理电子器件（19）、尤其是计算机断层造影设备的检测器模块的集成电路的设备（1，1′），包括：‑处理中心（5），所述处理中心在运行中定义测试流程和/或进一步处理来自测试流程的结果数据（ED，EDa，EDb），‑与所述处理中心（5）相连接的流程单元（23），该流程单元在运行中在从处理中心（5）接收测试流程的定义（TAD1，TAD2）之后独立地执行这些测试流程，并且该流程单元与用于接触所述处理电子器件(19)的接触设备（21）耦合，‑信号发生器（7），所述信号发生器将测试信号(TS)导入处理逻辑器（19），以及‑至少一个触发单元（13，13a，13b），所述触发单元在运行中实时地将通过所述流程单元（23）执行的测试流程的开始与通过所述信号发生器（7）对所述测试信号（TS）的导入相互同步。
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