[发明专利]原子基态超精细塞曼频率的测量装置和方法有效
申请号: | 201210270295.5 | 申请日: | 2012-07-31 |
公开(公告)号: | CN102788900A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 雷海东 | 申请(专利权)人: | 江汉大学 |
主分类号: | G01R23/02 | 分类号: | G01R23/02 |
代理公司: | 北京三高永信知识产权代理有限责任公司 11138 | 代理人: | 徐立 |
地址: | 430056 湖北省武汉市*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明公开了一种原子基态超精细塞曼频率的测量装置和方法,属于原子频标领域。装置:光辐射模块,用于使原子产生辐射光,辐射光的谱线包括两个超精细结构成分;过滤模块,用于采用原子的同位素滤除两个超精细结构成分中的一个,得到过滤后的辐射光;分裂跃迁模块,用于在过滤后的辐射光的照射下,通过磁场和射频信号的作用,使微波腔中的原子发生分裂并产生共振跃迁,微波腔中的原子与光辐射模块中的原子为同一种原子;光检模块,用于实时检测透过分裂跃迁模块的辐射光的强度,并产生光强信号;主控计算模块,用于为微波腔提供射频信号,根据射频信号与光强信号的对应关系,得到原子的吸收谱线,并根据吸收谱线计算原子的基态超精细塞曼频率。 | ||
搜索关键词: | 原子 基态 精细 频率 测量 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种原子基态超精细塞曼频率的测量装置,其特征在于,所述装置包括:光辐射模块,用于使原子产生辐射光,所述辐射光的谱线包括两个超精细结构成分;过滤模块,用于采用所述原子的同位素滤除所述两个超精细结构成分中的一个,得到过滤后的辐射光;分裂跃迁模块,用于在所述过滤后的辐射光的照射下,通过磁场和射频信号的作用,使微波腔中的原子发生分裂并产生共振跃迁,所述微波腔中的原子与所述光辐射模块中的原子为同一种原子;光检模块,用于实时检测透过所述分裂跃迁模块的辐射光的强度,并产生光强信号;主控计算模块,用于为所述微波腔提供所述射频信号,根据所述射频信号与所述光强信号的对应关系,得到所述原子的吸收谱线,并根据所述吸收谱线计算所述原子的基态超精细塞曼频率。
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