[发明专利]一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法有效
| 申请号： | 201210271107.0 | 申请日： | 2012-07-31 |
| 公开（公告）号： | CN102890050A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | 王慎文;鲍磊;周建文;朱红卫;肖琼;胡艳革;崔炜霞;陈磊 | 申请（专利权）人： | 中国石油化工股份有限公司;中国石油化工股份有限公司河南油田分公司石油勘探开发研究院 |
| 主分类号： | G01N15/14 | 分类号： | G01N15/14;G01N15/02 |
| 代理公司： | 郑州睿信知识产权代理有限公司 41119 | 代理人： | 陈浩 |
| 地址： | 100728 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法，属于粒度分析技术领域。本发明通过用筛析法从有代表性的样品中选取多个窄粒度分布范围样品，并计算出各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值和激光法中值，对得到的筛析法中值和激光法中值进行数据回归分析，得到校正公式；最后利用校正公式将样品的激光法粒度分析结果校正为筛析法粒度分析结果，或反之。本发明针对激光法和其它方法分析数据的明显差异，在大量实验数据对比分析的基础上，建立校正公式，从原理上合理的解决了激光法和筛析法粒度分析数据在数据对比和数据对接时数据的校正问题。该方法可以推广至其它粒度分析方法的数据校正。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 筛析法 粒度 分析 数据 校正 方法 | ||
【主权项】：
一种激光法与筛析法粒度分析数据的校正方法，其特征在于：该校正方法的步骤如下：1）.选取有代表性的样品；2）.以适当的粒度间隔，用筛析法从有代表性的样品中选取多个窄粒度分布范围样品，并计算出各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值；3）.对各个窄粒度分布范围样品进行激光粒度分析，得到各个样品激光法中值；4）.对得到的各个窄粒度分布范围样品的筛析法中值和激光法中值进行数据回归分析，得到校正公式；5）.利用校正公式将样品的激光法粒度分析结果校正为筛析法粒度分析结果或将筛析粒度分析结果校正为激光法粒度分析结果。
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