[发明专利]低损耗电阻测试装置无效

专利信息
申请号: 201210271911.9 申请日: 2012-08-02
公开(公告)号: CN102809694A 公开(公告)日: 2012-12-05
发明(设计)人: 阮献忠 申请(专利权)人: 泰州市双宇电子有限公司
主分类号: G01R27/02 分类号: G01R27/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 225300 江苏省泰*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种低损耗电阻测试装置,用于快速检测电阻的阻值,且该电阻两端分别设有接脚,该低损耗电阻测试装置包括基座板,基座板上设有电阻表和左铜带、右铜带,其中,电阻表的2个端子分别连接左铜带和右铜带,且左铜带和右铜带呈“八”字型分布,所述左铜带和右铜带之间设有滑块,滑块上设有容纳槽,容纳槽的两端设有保护槽,其中,电阻放置于容纳槽内,且2个接脚分别和2个保护槽相配。本发明所具有的优点是:检测电阻阻值速度较快、电阻的损耗率较低。
搜索关键词: 损耗 电阻 测试 装置
【主权项】:
低损耗电阻测试装置,用于快速检测电阻(100)的阻值,且该电阻(100)两端分别设有接脚(101),该低损耗电阻测试装置包括基座板(10),基座板(10)上设有电阻表(20)和左铜带(31)、右铜带(32),其中,电阻表(20)的2个端子分别连接左铜带(31)和右铜带(32),且左铜带(31)和右铜带(32)呈“八”字型分布,其特征在于:所述左铜带(31)和右铜带(32)之间设有滑块(40),滑块(40)上设有容纳槽(41),容纳槽(41)的两端设有保护槽(411),其中,电阻(100)放置于容纳槽(41)内,且2个接脚(101)分别和2个保护槽(411)相配。
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