[发明专利]一种超级结的制备工艺方法无效

专利信息
申请号: 201210271994.1 申请日: 2012-08-01
公开(公告)号: CN103578999A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 刘远良;胡晓明;徐向明 申请(专利权)人: 上海华虹NEC电子有限公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336
代理公司: 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 代理人: 王函
地址: 201206 上*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种超级结的制备工艺方法,主要针对深沟槽加P柱填入方式制备超级结的工艺,在P柱形成过程中,首先利用外延生长工艺采用单晶硅填充部分沟槽,然后再利用掺杂的多晶硅(poly)填充剩余部分的沟槽,要求多晶硅的掺杂浓度要大于底部外延填充单晶硅的浓度。最后利用干法刻蚀将硅表面的多晶硅进行回刻。通过外延加多晶硅填充超级结深沟槽,一方面可以提高P柱顶端的浓度,降低阱区的电阻,并最终改善器件的雪崩击穿能力;另一方面也可以简化工艺,降低生产成本。
搜索关键词: 一种 超级 制备 工艺 方法
【主权项】:
一种超级结的制备工艺方法,其特征在于,包括下列工艺步骤:步骤1,准备一片N型外延硅片做衬底;步骤2,利用光罩定义出需要P阱注入的区域并进行离子注入,然后利用高温退火工艺将P阱注入进行推进,形成P阱;步骤3,通过一层光罩定义出深沟槽的图案,采用干法刻蚀的方法,形成深沟槽;步骤4,采用选择性外延填充方式,在深沟槽内部分填充P型单晶硅,形成P柱;步骤5,在深沟槽顶部填充P型掺杂的多晶硅,并且掺杂浓度要大于深沟槽底部外延生长的P型单晶硅;步骤6,利用干法离子刻蚀工艺对硅表面的多晶硅进行回刻;步骤7,依次沉积一层氧化硅和掺杂多晶硅作为栅极,然后通过光刻和刻蚀工艺形成栅极;步骤8,利用离子注入形成源极,随后在深沟槽顶部形成接触孔;步骤9,等器件制备的所有工艺进行完后,再进行晶背减薄和蒸金在晶片背面形成漏极。
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