[发明专利]一种超级结的制备工艺方法无效
申请号: | 201210271994.1 | 申请日: | 2012-08-01 |
公开(公告)号: | CN103578999A | 公开(公告)日: | 2014-02-12 |
发明(设计)人: | 刘远良;胡晓明;徐向明 | 申请(专利权)人: | 上海华虹NEC电子有限公司 |
主分类号: | H01L21/336 | 分类号: | H01L21/336 |
代理公司: | 上海浦一知识产权代理有限公司 31211 | 代理人: | 王函 |
地址: | 201206 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种超级结的制备工艺方法,主要针对深沟槽加P柱填入方式制备超级结的工艺,在P柱形成过程中,首先利用外延生长工艺采用单晶硅填充部分沟槽,然后再利用掺杂的多晶硅(poly)填充剩余部分的沟槽,要求多晶硅的掺杂浓度要大于底部外延填充单晶硅的浓度。最后利用干法刻蚀将硅表面的多晶硅进行回刻。通过外延加多晶硅填充超级结深沟槽,一方面可以提高P柱顶端的浓度,降低阱区的电阻,并最终改善器件的雪崩击穿能力;另一方面也可以简化工艺,降低生产成本。 | ||
搜索关键词: | 一种 超级 制备 工艺 方法 | ||
【主权项】:
一种超级结的制备工艺方法,其特征在于,包括下列工艺步骤:步骤1,准备一片N型外延硅片做衬底;步骤2,利用光罩定义出需要P阱注入的区域并进行离子注入,然后利用高温退火工艺将P阱注入进行推进,形成P阱;步骤3,通过一层光罩定义出深沟槽的图案,采用干法刻蚀的方法,形成深沟槽;步骤4,采用选择性外延填充方式,在深沟槽内部分填充P型单晶硅,形成P柱;步骤5,在深沟槽顶部填充P型掺杂的多晶硅,并且掺杂浓度要大于深沟槽底部外延生长的P型单晶硅;步骤6,利用干法离子刻蚀工艺对硅表面的多晶硅进行回刻;步骤7,依次沉积一层氧化硅和掺杂多晶硅作为栅极,然后通过光刻和刻蚀工艺形成栅极;步骤8,利用离子注入形成源极,随后在深沟槽顶部形成接触孔;步骤9,等器件制备的所有工艺进行完后,再进行晶背减薄和蒸金在晶片背面形成漏极。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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