[发明专利]偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法在审
申请号: | 201210272524.7 | 申请日: | 2012-08-01 |
公开(公告)号: | CN102914368A | 公开(公告)日: | 2013-02-06 |
发明(设计)人: | 山田英明;长石道博 | 申请(专利权)人: | 精工爱普生株式会社 |
主分类号: | G01J4/00 | 分类号: | G01J4/00 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 李辉;黄纶伟 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 偏振状态测定装置以及偏振状态测定方法,光学装置(3)具有对透过光进行检测并射出的检光部(314),该透过光是从光源(300)射出并由第2偏振部(308)进行转换后的线偏振光透过被检体(S)后的光。并且光学装置(3)具有;对来自检光部(314)的出射光进行垂直分离的垂直分离部(316)、和接收由垂直分离部(316)进行垂直分离后的光的受光部(320)。运算装置将旋转控制信号输出到旋转装置(330),以使旋转面与透过光的光路垂直的方式对检光部(314)进行旋转控制。运算装置使用在检光部(314)的旋转中由受光部(320)接收被垂直分离部(316)垂直分离后的光而得到的强度,来测定透过被检体(S)的透过光的偏振状态。 | ||
搜索关键词: | 偏振 状态 测定 装置 以及 方法 | ||
【主权项】:
一种偏振状态测定装置,该偏振状态测定装置具备:检光部,其对线偏振光透过被检体后的透过光进行检测并射出;垂直分离部,其对来自所述检光部的出射光进行垂直分离;受光部,其接收由所述垂直分离部进行垂直分离后的光;旋转控制部,其使所述检光部以旋转面与所述透过光的光路垂直的方式旋转;以及偏振状态测定部,其使用在所述检光部的旋转中由所述受光部接收进行所述垂直分离后的光而得到的强度来测定所述透过光的偏振状态。
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