[发明专利]用于孔隙度测量和缺陷检测的方法和设备在审
| 申请号： | 201210273473.X | 申请日： | 2012-08-02 |
| 公开（公告）号： | CN102914590A | 公开（公告）日： | 2013-02-06 |
| 发明（设计）人： | R.W.伯格曼 | 申请（专利权）人： | 通用电气公司 |
| 主分类号： | G01N29/04 | 分类号： | G01N29/04;G01N29/11;G01N15/08 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 叶晓勇;李浩 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 一种用于孔隙度测量和缺陷检测的方法和设备。本发明涉及并公开了一种用于用包括超声探针的超声系统来无损检查复合结构的方法和设备，包括：在无槽环境中定位所述复合结构；以及用所述超声系统扫描所述复合结构，以测量由所述复合结构反射到单个超声探针的超声波。所述复合结构的物理特性至少部分基于所测量的超声波进行确定。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 孔隙 测量 缺陷 检测 方法 设备 | ||
【主权项】：
一种用于用包括超声探针(404、616)的超声系统(402、602)来无损检查复合结构的方法(300、500)，所述方法包括：在无槽环境中定位所述复合结构；用所述超声系统(402、602)扫描(304、502)所述复合结构，以测量由所述复合结构反射到所述超声探针(404、616)的超声波；以及至少部分基于所测量的超声波确定(308、504)所述复合结构的物理特性。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于通用电气公司，未经通用电气公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210273473.X/，转载请声明来源钻瓜专利网。
