[发明专利]一种任意变形地图精准量算的方法有效

专利信息
申请号: 201210279008.7 申请日: 2012-08-07
公开(公告)号: CN103577678A 公开(公告)日: 2014-02-12
发明(设计)人: 刘美兰;吴珏;吕艳红;姚银银;陆爱军;毛智俊 申请(专利权)人: 上海市测绘院
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00
代理公司: 上海申新律师事务所 31272 代理人: 袁亚军
地址: 200063 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及精准量测的方法,尤其涉及一种地图精准量算的方法。本发明一种地图精准量算的方法,通过利用特征点的像素信息数据与量算点的像素信息数据建立拟合比例关系,并根据该拟合比例关系和特征点的地理坐标信息数据计算出量测点的地理坐标信息数据,再量算出多个量算点构成的多线段的长度或多边形的面积,并绘制在地图上,从而实现在失去地理参考系的任意变形地图或手绘地图的精确量算。
搜索关键词: 一种 任意 变形 地图 精准 方法
【主权项】:
一种任意变形地图精准量算的方法,其特征在于,于一地图上设置像素坐标系,在所述地图上选取M个特征点Pi(i=1、2、3……M‑1或M,M≥4),并获取该M个特征点Pi在一地理坐标系中的M个对应点Qi(i=1、2、3……M‑1或M,M≥4),建立该M个特征点Pi的数据库;其中,该数据库包括所述M个特征点Pi的位于所述地图上的像素信息数据Pi(pxi,pyi)和M个对应点Qi在所述地理坐标系中的地理坐标信息数据Qi(xi,yi);在所述地图上选取T个量算点Pz(z=1、2、3……T‑1或T,T≥2),获取所述T个量算点Pz的像素信息数据Pz(pxz,pyz);选取并利用所述T个量算点Pz的像素信息数据Pz(pxz,pyz)中任意一点Pt(t=1、2、3……T‑1或T)的像素信息数据Pt(pxt,pyt),以进行拟合运算,即:遍历搜索所述数据库中的像素信息数据Pi(pxi,pyi),并调取所述数据库中离所述Pt点距离最小的N个特征点Pj(j=1、2、3……N‑1或N,N≥4且N≤M)的像素信息数据Pj(pxj,pyj)和N个对应点Qj(j=1、2、3……N‑1或N,N≥4且N≤M)的地理坐标信息数据Qj(xj,yj);根据所述N个特征点Pj的像素信息数据Pj(pxj,pyj)和所述Pt点的像素信息数据Pt(pxt,pyt)建立拟合比例关系,并根据该拟合比例关系和所述N个对应点Qj的地理坐标信息数据Pj(xj,yj)计算出所述Pt点位于所述地理坐标系中的对应点Qt(t=1、2、3……T‑1或T)的地理坐标信息数据Qt(xt,yt);再次选取并利用所述T个量算点Pz的像素信息数据Pz(pxz,pyz)中的另一点像素信息数据,并重复上述拟合运算,得到该点位于所述地理坐标系中的地理坐标信息数据,依次循环上述步骤,计算出T个量算点Pz在所述地理坐标参考系中T个对应点Qz(z=1、2、3……T‑1或T,T≥2)的地理坐标信息数据Qz(xz,yz);根据T个所述对应点Qz的地理坐标信息数据Qz(xz,yz)计算该T个对应点Qz之间的距离或面积并绘制到所述地图上进行显示;其中,M、N、T均为整数,且进行面积量算时,T≥3;pxi为M个特征点Pi中第i点在像素坐标系中X轴的坐标,pxz为T个量测点Pz中第z点在像素坐标系中X轴的坐标,pxt为T个量测点Pz中进行拟合运算的Pt点在像素坐标系中X轴的坐标,pxj为距离Pt点最近距离的N个特征点Pj中第j点在像素坐标系中X轴的坐标,pyi为 M个特征点Pi中第i点在像素坐标系中Y轴的坐标,pyz为T个量测点Pz中第z点在像素坐标系中Y轴的坐标,pyt为T个量测点Pz中进行拟合运算的Pt点在像素坐标系中Y轴的坐标,pyj为距离Pt点最近距离的N个特征点Pj中第j点在像素坐标系中Y轴的坐标,xi为M个对应点Qi中第i点在地理坐标系中X轴的坐标,xz为T个对应点Qz中第z点在地理坐标系中X轴的坐标,xt为T个对应点Qz中进行拟合运算的Qt点在地理坐标系中X轴的坐标,xj为距离Qt点最近距离的N个对应点Qj中第j点在地理坐标系中X轴的坐标,yi为M个对应点Qi中第i点在地理坐标系中Y轴的坐标,yz为T个对应点Qz中第z点在地理坐标系中Y轴的坐标,yt为T个对应点Qz中进行拟合运算的Qt点在地理坐标系中Y轴的坐标,yj为距离Qt点最近距离的N个对应点Qj中第j点在地理坐标系中Y轴的坐标。
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