[发明专利]一种测定不同粒径颗粒物密度的方法无效
| 申请号： | 201210279726.4 | 申请日： | 2012-08-07 |
| 公开（公告）号： | CN102818746A | 公开（公告）日： | 2012-12-12 |
| 发明（设计）人： | 高健;柴发合;王淑兰 | 申请（专利权）人： | 中国环境科学研究院 |
| 主分类号： | G01N9/04 | 分类号： | G01N9/04 |
| 代理公司： | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人： | 徐宁;宋少娜 |
| 地址： | 100012 北*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测定不同粒径颗粒物密度的方法，其包括以下步骤：1）设置撞击式大气颗粒物分级采样器和颗粒物数浓度粒径分布仪；撞击式大气颗粒物分级采样器内设置有若干层采样膜；2）撞击式大气颗粒物分级采样器通过多层采样膜对大气中各不同粒径范围的颗粒物进行采样，获得该相应粒径范围内的颗粒物；3）采样前后，将各层采样膜放在恒温恒湿天平室进行恒重，并使用百万分之一精度天平对各采样膜采样前后的重量进行称量，获得大气中各不同粒径范围内的颗粒物的质量浓度；4）颗粒物数浓度粒径分布仪测量大气中10nm至10μm之间颗粒物的数浓度粒径分布；将所得数据进行分组，并计算在各粒径范围内颗粒物的体积浓度；5）将各不同粒径范围的颗粒物的质量浓度和体积浓度进行比较，获得的各比例系数即为不同粒径颗粒物密度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 测定 不同 粒径 颗粒 密度 方法 | ||
【主权项】：
一种测定不同粒径颗粒物密度的方法，其包括以下步骤：1）在同一待测地点设置一包括撞击式大气颗粒物分级采样器和颗粒物数浓度粒径分布仪的颗粒物密度测定系统；撞击式大气颗粒物分级采样器内根据其自身可调的粒径切割范围设置有若干层采样膜；采样前，撞击式大气颗粒物分级采样器中用到的各层采样膜在恒温恒湿天平室进行恒重；2）撞击式大气颗粒物分级采样器通过多层采样膜对大气中各不同粒径范围的颗粒物进行采样，获得该相应粒径范围内的颗粒物；3）采样后，将各层采样膜同样放在恒温恒湿天平室进行恒重，并使用百万分之一精度天平对各采样膜采样前、后的重量进行称量，以获得大气中各不同粒径范围内的颗粒物的质量浓度；4）同时颗粒物数浓度粒径分布仪测量大气中10nm至10μm之间颗粒物的数浓度粒径分布；将所得数据按照步骤1）采用的撞击式大气颗粒物分级采样器的若干粒径范围进行分组，并通过各颗粒物的数浓度粒径分布计算在各粒径范围内颗粒物的体积浓度；5）将各不同粒径范围的颗粒物的质量浓度和与其对应的体积浓度进行比较，获得的各比例系数即为不同粒径颗粒物密度。
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