[发明专利]一种提高单一齿距加工精度的邻齿易位磨齿工艺无效

专利信息
申请号: 201210279923.6 申请日: 2012-08-07
公开(公告)号: CN102784971A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 王立鼎;凌四营;娄志峰;马勇;王晓东 申请(专利权)人: 大连理工大学
主分类号: B23F5/02 分类号: B23F5/02
代理公司: 大连理工大学专利中心 21200 代理人: 关慧贞
地址: 116024*** 国省代码: 辽宁;21
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明公开了一种提高单一齿距加工精度的邻齿易位磨齿工艺,是通过将齿坯相对于分度元件向前或后错位一齿,利用两组单一齿距误差曲线相干涉的原理,再加工被磨齿坯中具有相对加工余量的某些齿。根据易位的方向和易位的次数不同,邻齿易位磨齿工艺可通过“向前易位一齿”或“向后易位一齿”两种一次邻齿易位来实现;亦可通过“先向前易位一齿然后向后易位两齿”或“先向后易位一齿然后向前易位两齿”两种二次邻齿易位来实现。本发明可在已有磨齿工艺的基础上减小20%左右的单一齿距偏差,使被磨齿坯的单一齿距精度提高1个等级。邻齿易位磨齿工艺可在现有磨齿设备上使用,成本低、操作简便和提高单一齿距加工精度效果,具有很好的应用价值与市场前景。
搜索关键词: 一种 提高 单一 加工 精度 易位 工艺
【主权项】:
一种提高单一齿距加工精度的邻齿易位磨齿工艺,其特征在于,通过将被磨齿坯相对于分度元件错位一齿,利用两组单一齿距误差曲线相干涉的原理,再加工被磨齿坯中具有相对加工余量的某些齿;参与再加工的齿数要略超过总齿数的一半或控制再加工余量为原始单一齿距偏差的峰值。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于大连理工大学,未经大连理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210279923.6/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top