[发明专利]一种提高单一齿距加工精度的邻齿易位磨齿工艺无效
申请号: | 201210279923.6 | 申请日: | 2012-08-07 |
公开(公告)号: | CN102784971A | 公开(公告)日: | 2012-11-21 |
发明(设计)人: | 王立鼎;凌四营;娄志峰;马勇;王晓东 | 申请(专利权)人: | 大连理工大学 |
主分类号: | B23F5/02 | 分类号: | B23F5/02 |
代理公司: | 大连理工大学专利中心 21200 | 代理人: | 关慧贞 |
地址: | 116024*** | 国省代码: | 辽宁;21 |
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摘要: | 本发明公开了一种提高单一齿距加工精度的邻齿易位磨齿工艺,是通过将齿坯相对于分度元件向前或后错位一齿,利用两组单一齿距误差曲线相干涉的原理,再加工被磨齿坯中具有相对加工余量的某些齿。根据易位的方向和易位的次数不同,邻齿易位磨齿工艺可通过“向前易位一齿”或“向后易位一齿”两种一次邻齿易位来实现;亦可通过“先向前易位一齿然后向后易位两齿”或“先向后易位一齿然后向前易位两齿”两种二次邻齿易位来实现。本发明可在已有磨齿工艺的基础上减小20%左右的单一齿距偏差,使被磨齿坯的单一齿距精度提高1个等级。邻齿易位磨齿工艺可在现有磨齿设备上使用,成本低、操作简便和提高单一齿距加工精度效果,具有很好的应用价值与市场前景。 | ||
搜索关键词: | 一种 提高 单一 加工 精度 易位 工艺 | ||
【主权项】:
一种提高单一齿距加工精度的邻齿易位磨齿工艺,其特征在于,通过将被磨齿坯相对于分度元件错位一齿,利用两组单一齿距误差曲线相干涉的原理,再加工被磨齿坯中具有相对加工余量的某些齿;参与再加工的齿数要略超过总齿数的一半或控制再加工余量为原始单一齿距偏差的峰值。
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