[发明专利]具有p-GaN层纳米碗状表面粗化的GaN基LED芯片的制作方法有效

专利信息
申请号: 201210281654.7 申请日: 2012-08-09
公开(公告)号: CN102790153A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 李璟;李鸿渐;张溢 申请(专利权)人: 扬州中科半导体照明有限公司
主分类号: H01L33/22 分类号: H01L33/22;H01L33/00
代理公司: 扬州市锦江专利事务所 32106 代理人: 江平
地址: 225009 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 具有p-GaN层纳米碗状表面粗化的GaN基LED芯片的制作方法,涉及光电器件生产技术领域。先在GaN外延片的P-GaN层的表面蒸镀刻蚀用掩膜氯化铯薄膜层;向蒸发台腔室中充入水汽,形成多个氯化铯纳米岛,再在具有氯化铯纳米岛上沉积二氧化硅层;将外延片放入去离子水中浸泡或超声处理,形成二氧化硅纳米碗层,再将二氧化硅纳米碗层作为刻蚀掩膜,刻蚀结束后,将GaN外延片上的残留二氧化硅纳米碗层去除干净;将GaN外延片的一侧的进行ICP刻蚀,形成台面,在GaN外延片的上表面蒸镀ITO薄膜,等。经表面粗化后的GaN-LED比常规GaN-LED的光功率提高了35%以上。
搜索关键词: 具有 gan 纳米 表面 led 芯片 制作方法
【主权项】:
具有p‑GaN层纳米碗状表面粗化的GaN基LED芯片的制作方法,包括采用金属有机化学气相沉积的方法,在半导体衬底上依次生长低温GaN缓冲层、不掺杂GaN层、N‑GaN层、多量子阱发光层和P‑GaN层,形成GaN外延片,其中所述半导体衬底为蓝宝石、硅、碳化硅或金属;还包括将GaN外延片的一侧进行ICP刻蚀,去除一侧的P‑GaN、量子阱以及部分N‑GaN层,形成台面;在GaN外延片的上表面使用电子束蒸发的方法蒸镀ITO薄膜;在P‑GaN层、ITO层和N‑GaN层上选用负型光刻胶L‑300光刻P、N电极,采用电子束蒸发法依次蒸镀金属Cr层、金属Pt层和金属Au层,剥离后形成P电极和N电极;将半导体衬底减薄后,划裂成单独芯片;其特征在于还包括以下步骤:1)在进行ICP刻蚀前,于GaN外延片的P‑GaN层的表面蒸镀厚度为100~800nm的刻蚀用掩膜氯化铯薄膜层;2)向蒸发台腔室中充入水汽,使P‑GaN层表面的氯化铯吸收水分逐渐长大形成多个氯化铯纳米岛,各氯化铯纳米岛与相邻的氯化铯纳米岛之间的间隙的占空比为1:1;3)在具有氯化铯纳米岛的P‑GaN层表面采用PECVD法淀积厚度为0.5~1um的二氧化硅层;4)将覆盖有氯化铯纳米岛和二氧化硅层的外延片放入去离子水中浸泡或超声处理,将氯化铯纳米岛去除,形成二氧化硅纳米碗层,所述二氧化硅纳米碗层为由相连的多个背面分别朝向P‑GaN层的碗形二氧化硅纳米材料组成;5)将二氧化硅纳米碗层作为刻蚀掩膜,对GaN外延片进行ICP刻蚀;刻蚀时同时使用Cl2、BCl3和Ar2三种气体作为刻蚀气体,其中Cl2流量为30~100sccm,BCl3流量为5~20sccm,Ar2流量为5~25sccm;刻蚀功率为300~700W;射频功率为50~200W;刻蚀时间为3~15min;刻蚀结束后,采用BOE溶液将GaN外延片上的残留二氧化硅纳米碗层去除干净;然后进行ICP刻蚀。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于扬州中科半导体照明有限公司,未经扬州中科半导体照明有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210281654.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top