[发明专利]一种基于量子点的中子能谱测量方法有效

专利信息
申请号: 201210282551.2 申请日: 2012-08-09
公开(公告)号: CN102788990A 公开(公告)日: 2012-11-21
发明(设计)人: 祝庆军;宋逢泉;宋钢;廖燕飞;吴宜灿 申请(专利权)人: 中国科学院合肥物质科学研究院
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00
代理公司: 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 代理人: 成金玉
地址: 230031 *** 国省代码: 安徽;34
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摘要: 一种基于量子点的中子能谱测量方法,通过使用若干种不同种类的量子点作为中子探测器,根据各种量子点对入射中子产生光学信号的差异,获得入射中子的能谱信息等。本发明提出了一种新的能谱测量的新方法,适用于从10-9MeV-100MeV的中子能谱测量。
搜索关键词: 一种 基于 量子 中子 测量方法
【主权项】:
1.一种基于量子点的中子能谱测量方法,其特征在于实现步骤如下:(1)刻度量子点光学信号强度与中子能量的函数关系将待刻度的能量范围划分的为N个能群,N>20,第j个能群的能量为Ej,其中j=1,2,3…N,如将10-9MeV到650MeV能量范围划分为60个能群。中子探测器采用M种量子点,M>3,将M种量子点和量子点光学信号强度采集系统置于已知辐射场中,M种量子点所放置位置处的中子能量Ej,这时量子点光学信号强度采集系统测量到第i种量子点光学信号强度Li(Ej),i=1,2,3…M;最终根据N个能群的中子能量和相应的M种量子点的光学信号强度,得到M种量子点光学信号强度对中子能量的响应函数,第i种量子点光学信号强度对中子能量的响应函数为Ri(Ej)。(2)测量未知辐射场中量子点光学信号强度将M种量子点和量子点光学信号强度采集系统放置于未知辐射场中,量子点光学信号强度采集系统测量到第i种量子光学信号强度Li,Li的标准差为σi;(3)根据步骤(2)未知辐射场中所述量子点光学信号强度Li,以及步骤(1)中所述量子点光学信号强度对中子能量响应函数Ri(Ej),建立方程组使用反卷积方法求解方程组,获得方程组解为F(Ej),F(Ej)为能量为Ej的中子通量,F(Ej)即为中子能谱信息。
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