[发明专利]精确测量光纤光栅反射率的方法在审

专利信息
申请号: 201210282809.9 申请日: 2012-08-10
公开(公告)号: CN102829958A 公开(公告)日: 2012-12-19
发明(设计)人: 赵耀;韩正英;高业胜;李国超 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第四十一研究所
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 266000 山东省*** 国省代码: 山东;37
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摘要: 发明公开了一种精确测量光纤光栅反射率的方法,所述精确测量光纤光栅反射率的方法采用可调谐激光器等且包括以下步骤:接入一个反射率已知、近似全反射的标准反射负载并通过可调谐激光器、隔离器进行波长扫描,功率计记录标准反射负载的光谱曲线;接入被测光纤光栅通过可调谐激光器、隔离器进行波长扫描,功率计记录被测光纤光栅的光谱曲线;被测光纤光栅与标准反射负载的光谱曲线的对应数据相比,峰值点对应的纵坐标值即为反射率。本发明采用波长扫描法测量光纤光栅的反射光谱曲线,进而计算反射率的大小,解决现有方法在测量低反射率光纤光栅时误差较大的问题。
搜索关键词: 精确 测量 光纤 光栅 反射率 方法
【主权项】:
一种精确测量光纤光栅反射率的方法,其特征在于,所述精确测量光纤光栅反射率的方法采用可调谐激光器、隔离器、环形器、功率计,可调谐激光器与隔离器连接,隔离器与环形器的输入端口连接,环形器的测量端口与被测光纤光栅、标准反射负载连接,环形器的输出端口与功率计连接,所述精确测量光纤光栅反射率的方法包括以下步骤:S1、接入一个反射率已知、近似全反射的标准反射负载并通过可调谐激光器、隔离器进行波长扫描,功率计记录标准反射负载的光谱曲线;S2、接入被测光纤光栅通过可调谐激光器、隔离器进行波长扫描,功率计记录被测光纤光栅的光谱曲线;S3、被测光纤光栅与标准反射负载的光谱曲线的对应数据相比,峰值点对应的纵坐标值即为反射率。
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