[发明专利]一种基于近红外光谱鉴别重金属污染水稻叶片的方法无效
| 申请号： | 201210286455.5 | 申请日： | 2012-08-13 |
| 公开（公告）号： | CN102830072A | 公开（公告）日： | 2012-12-19 |
| 发明（设计）人： | 朱诚;张龙;潘家荣;赵鹂 | 申请（专利权）人： | 中国计量学院;丽水学院 |
| 主分类号： | G01N21/25 | 分类号： | G01N21/25 |
| 代理公司： | 杭州天勤知识产权代理有限公司 33224 | 代理人： | 胡红娟 |
| 地址： | 310018 浙江省*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于近红外光谱鉴别重金属污染水稻叶片的方法，包括以下步骤：(1)采集四类水稻叶片样本，向水稻叶片样本背面发射波数范围为4000～12000cm-1的近红外光谱，并采集所有水稻叶片样本的漫反射光谱信息；(2)利用小波转换方法分别对水稻叶片样本的漫反射光谱信息进行处理，获取对应的小波特征；(3)以水稻叶片样本的小波特征为输入，以水稻叶片样本对应的叶片污染类型设定值为输出，建立神经网络模型；(4)根据步骤(1)～(2)获取待测水稻的小波特征，将其带入步骤(3)中所述的神经网络模型，得到待测水稻的污染类型。本发明鉴别方法精度高、操作简单、成本低廉，可实现水稻重金属污染的快速、无损鉴别。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 红外 光谱 鉴别 重金属 污染 水稻 叶片 方法 | ||
【主权项】：
一种基于近红外光谱鉴别重金属污染水稻叶片的方法，其特征在于，包括以下步骤：(1)采集四类水稻叶片样本，向水稻叶片样本背面发射波数范围为4000～12000cm‑1的近红外光谱，并采集所有水稻叶片样本的漫反射光谱信息，所述四类水稻叶片样本中，一类为正常水稻叶片样本，其余三类分别为汞、镉、铅污染水稻叶片样本；(2)利用小波转换方法分别对水稻叶片样本的漫反射光谱信息进行处理，获取对应的小波特征；(3)以水稻叶片样本的小波特征为输入，以水稻叶片样本对应的叶片污染类型设定值为输出，建立神经网络模型；(4)根据步骤(1)～(2)获取待测水稻的小波特征，将其带入步骤(3)中所述的神经网络模型，得到待测水稻的污染类型。
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