[发明专利]用于测定梨的多指标参数的装置和方法

摘要

本发明公开了用于测定梨的多指标参数的装置，包括：暗箱；位于所述暗箱内，用于测量梨的重量的电子称重旋转平台；位于所述暗箱内，用于测量梨的高度的高度测量装置；用于向梨发射检测光的光照模块；用于接收梨的反射光的光谱采集模块；用于接收所述电子称重旋转平台和高度测量装置的信号计算样品体积，以及用于接收所述光谱采集单元信号计算样品硬度的控制单元。本发明还公开了一种利用所述的梨的多指标参数测定装置测定梨的多指标参数的方法。本发明实现了梨的重量、高度、体积以及硬度的多项物理参数的快速检测，检测快速准确，检测成本低，环境污染小。

主权项

用于测定梨的多指标参数的装置，其特征在于，包括：暗箱；位于所述暗箱内，用于测量梨的重量的电子称重旋转平台；位于所述暗箱内，用于测量梨的高度的高度测量装置；用于向梨发射检测光的光照模块；用于接收梨的反射光的光谱采集模块；用于接收所述电子称重旋转平台和高度测量装置的信号计算样品体积，以及用于接收所述光谱采集单元信号计算样品硬度的控制单元；所述光照模块包括在光路上依次布置的LED点光源阵列、反射盖、第一聚焦透镜、第二聚焦透镜以及输出光纤，所述LED点光源阵列包括480nm、500nm、600nm、650nm、700nm、850nm、900nm、950nm、1155nm、1400nm、1467nm和1759nm的LED点光源各一盏，所有LED点光源呈圆环形排列且均匀分布。