[发明专利]基于光通量的微孔快速检测方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于光通量的微孔快速检测方法和装置，该方法将透过待测微孔光通量所对应的电流测量值与透过标准微孔的光通量所对应的电流标准值进行比较，以评判待测微孔质量，能够实现微孔几何参数高效、精确的测量，可有效解决工业领域微孔快速检测的实际需求。解决传统基于显微图像技术进行微孔测量时，由于光学系统景深限制，测量结果不能全面反映细长微孔作用长度范围内几何形貌特征的缺点。能够有效地判断微孔内壁是否存在污物、毛刺、微孔尺寸是否超差、微孔是否达到磨损等问题。

主权项

一种基于光通量的微孔快速检测方法，用于检测待检试件上所开设的待测微孔质量，其特征在于，通过测定透过待测微孔的光通量评价该待测微孔质量，具体包括以下步骤：（1）在标准试件的一侧设置光源，而在标准试件的另一侧设置光通量检测装置，该光通量检测装置包括光纤以及安装在光纤一端的光电探测器，光纤另一端面向标准试件设置；（2）通过光电探测器，采集光源透过标准微孔的光通量经光纤传输后所对应的光电流标准值；采集时，光源发射的光线、处于采集状态标准微孔的轴线、光纤的轴线均处于同一直线；（3）将步骤（1）的标准试件更换为待测试件，通过光电探测器，读取光源透过待测微孔的光通量经光纤传输后所对应的光电流测量值，采集时，光源发射的光线、处于采集状态待测微孔的轴线、光纤的轴线均处于同一直线；（4）将待测微孔对应的光电流测量值与标准微孔的光电流标准值进行比对，即可进行该待测微孔的质量评价。