[发明专利]芯片封装方法及使用该方法制造的晶圆无效

专利信息
申请号: 201210296139.6 申请日: 2012-08-20
公开(公告)号: CN102842511A 公开(公告)日: 2012-12-26
发明(设计)人: 吴腾飞;蒋慜佶;高洪涛 申请(专利权)人: 上海凯虹科技电子有限公司;上海凯虹电子有限公司;达迩科技(成都)有限公司
主分类号: H01L21/50 分类号: H01L21/50;H01L23/00;B41M1/12
代理公司: 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 代理人: 孙佳胤
地址: 201612 上海市*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供一种芯片封装方法及使用该方法制造的晶圆,该方法用于半导体技术封装领域,所述芯片封装方法,包括以下步骤:(1)提供一晶圆,所述晶圆正面具有多个芯片;(2)用丝网在晶圆的每颗芯片背面印刷芯片粘合剂,所述丝网具有多个孔,每个孔对应一个芯片位置;(3)将晶圆切割成多个独立的芯片,每个芯片的背面均具有粘合剂;(4)提供引线框架,并将芯片通过背面的粘合剂粘贴在引线框架上。本发明芯片封装方法实现晶圆上每个芯片独立地涂抹粘合剂,避免了粘合剂内应力造成的晶圆翘曲,也避免了切割时粘合剂与芯片分离的问题。
搜索关键词: 芯片 封装 方法 使用 制造
【主权项】:
一种芯片封装方法,其特征在于,包括以下步骤: (1)提供一晶圆,所述晶圆正面具有多个芯片; (2)用丝网在晶圆的每颗芯片背面印刷芯片粘合剂,所述丝网具有多个孔,每个孔对应一个芯片位置; (3)将晶圆切割成多个独立的芯片,每个芯片的背面均具有粘合剂; (4)提供引线框架,并将芯片通过背面的粘合剂粘贴在引线框架上。
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