[发明专利]超光谱成像光谱仪装调、测试用狭缝组件有效
| 申请号： | 201210299291.X | 申请日： | 2012-08-21 |
| 公开（公告）号： | CN102865924A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 司福祺;江宇;相连钦;周海金;赵敏杰;刘文清 | 申请（专利权）人： | 中国科学院安徽光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01J3/04 | 分类号： | G01J3/04 |
| 代理公司： | 安徽合肥华信知识产权代理有限公司 34112 | 代理人： | 余成俊 |
| 地址： | 230031 安徽省*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种超光谱成像光谱仪装调、测试用狭缝组件，将测试光源发出的光由光纤端面进入，经光纤束传导并由光纤束输出端射出，照亮圆形小孔，并由圆形小孔进入成像光谱仪中，为光谱仪装调、测试提供合适的光源。本发明在使用常规光源照明的情况下，保证了入射进圆形小孔的光强度的一致均匀性，解决了超光谱成像光谱仪装调、测试过程缺乏合适光源的情况，结合不同的光源为成像光谱仪提供合适的入射光源。 | ||
| 搜索关键词： | 光谱 成像 光谱仪 测试 狭缝 组件 | ||
【主权项】：
一种超光谱成像光谱仪装调、测试用狭缝组件，包括有入射狭缝，其特征在于：在所述的入射狭缝上开有一系列不同间距的圆形小孔，所述的圆形小孔的直径等于所述的入射狭缝的宽度，所述的圆形小孔的间距有三种：等于超光谱成像光谱仪理论空间分辨率、大于超光谱成像光谱仪理论空间分辨率和小于超光谱成像光谱仪理论空间分辨率。
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