[发明专利]离子产生装置无效
| 申请号： | 201210303413.8 | 申请日： | 2012-08-23 |
| 公开（公告）号： | CN103036147A | 公开（公告）日： | 2013-04-10 |
| 发明（设计）人： | 冈桥哲秀 | 申请（专利权）人： | 夏普株式会社 |
| 主分类号： | H01T23/00 | 分类号： | H01T23/00 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 邱忠贶 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 日本;JP |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明保护一种离子产生装置(100)，其包括充电部(103)、变压器(104)、离子产生元件(105)、开关元件(108)、控制开关元件(108)的接通断开的驱动部(107)。在变压器(104)的2次侧线圈(104b)与离子产生元件(105)的电容所决定的谐振周期为T时，开关元件(108)在充电部(103)充电后被接通，在经过与从T／4到T／2对应的时间后被断开。 | ||
| 搜索关键词： | 离子 产生 装置 | ||
【主权项】：
一种离子产生装置，其特征在于，包括：充电部，该充电部对输入的直流电压充电；变压器，该变压器将所述充电部的输出电压输入至1次侧线圈且向2次侧线圈输出衰减振荡电压；离子产生元件，该离子产生元件施加有所述衰减振荡电压；开关元件，该开关元件将所述变压器的所述1次侧线圈相对于接地电位进行接通断开；以及驱动部，该驱动部控制所述开关元件的接通断开，所述开关元件在所述充电部充电后被接通，在所述2次侧线圈与所述离子产生元件的电容所决定的谐振周期为T时，在与从T/4到T/2对应的时间被断开。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社，未经夏普株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201210303413.8/，转载请声明来源钻瓜专利网。
