[发明专利]一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统

摘要

本发明公开了一种用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(141)、第二测试杆(142)、第一旋钮(151)、第二旋钮(152)、第一探头固定装置(161)和第二探头固定装置(162)；第一探头(3)固定于第一测试杆(141)上，第二探头(4)固定于第二测试杆(142)上，且第一探头(3)和第二探头(4)与示波器(2)电连接。所述系统对包括脉冲信号源在内的瞬变电磁场产生装置的要求低，能够快速、准确地对瞬变电磁场的场均匀性进行校准。所述系统的支架既能用于支撑和固定探头，又能用于调节探头的位置和角度。所述系统的支架对探头位置和角度的调节精度高。

主权项

用于校准瞬变电磁场场均匀性的带支架的系统，其特征在于，该系统包括支架(1)、示波器(2)、第一探头(3)和第二探头(4)；所述支架(1)包括底座(11)、转轴(12)、圆拱形的第一拱衬(131)、圆拱形的第二拱衬(132)、第一测试杆(141)、第二测试杆(142)、第一旋钮(151)、第二旋钮(152)、第一探头固定装置(161)和第二探头固定装置(162)；所述第一探头(3)固定于所述第一测试杆(141)上，所述第二探头(4)固定于所述第二测试杆(142)上，且所述第一探头(3)和所述第二探头(4)与所述示波器(2)电连接；所述底座(11)的上表面设有凸起(17)，所述转轴(12)固定于所述凸起(17)上，所述第一拱衬(131)和所述第二拱衬(132)设于所述底座(11)的上表面，且所述凸起(17)和所述转轴(12)穿过所述第一拱衬(131)和所述第二拱衬(132)的中空部分，所述第一拱衬(131)所在的平面和所述第二拱衬(132)所在的平面分别与所述底座(11)的上表面垂直；所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)的底端分别呈“h”字形，所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)的底端分别与所述转轴(12)铰接，且所述第一测试杆(141)和所述第二测试杆(142)分别能够绕所述转轴(12)转动，所述第一拱衬(131)被设置为穿过所述第一测试杆(141)的底端的缺口(1412)，所述第二拱衬(132)被设置为穿过所述第二测试杆(142)的底端的缺口(1422)；所述第一拱衬(131)上设有圆拱形的第一凹槽(1311)，所述第一旋钮(151)上设有螺纹，所述第一测试杆(141)底端的第二侧板(1414)上设有与所述第一旋钮(151)配合的螺纹，所述第一旋钮(151)穿过所述第一测试杆(141)底端的第一侧板(1413)和所述第一凹槽(1311)与所述第一测试杆(141)底端的第二侧板(1414)配合，通过旋紧所述第一旋钮(151)能够使所述第一测试杆(141)的位置固定；所述第二拱衬(132)上设有圆拱形的第二凹槽(1321)，所述第二旋钮(152)上设有螺纹，所述第二测试杆(142)底端的第四侧板(1424)上设有与所述第二 旋钮(152)配合的螺纹，所述第二旋钮(152)穿过所述第二测试杆(142)底端的第三侧板(1423)和所述第二凹槽(1321)与所述第二测试杆(142)底端的第四侧板(1424)配合，通过旋紧所述第二旋钮(152)能够使所述第二测试杆(142)的位置固定；所述第一探头固定装置(161)设于所述第一测试杆(141)上；所述第二探头固定装置(162)设于所述第二测试杆(142)上，所述第一探头固定装置(161)能够沿所述第一测试杆(141)自由滑动，所述第二探头固定装置(162)能够沿所述第二测试杆(142)自由滑动，所述第一探头固定装置(161)上设有第三旋钮(1611)，所述第二探头固定装置(162)上设有第四旋钮(1621)，通过旋紧所述第三旋钮(1611)能够使所述第一探头固定装置(161)的位置固定，通过旋紧所述第四旋钮(1621)能够使所述第二探头固定装置(162)的位置固定。