[发明专利]检查装置有效

专利信息
申请号: 201210315628.1 申请日: 2012-08-27
公开(公告)号: CN103376268A 公开(公告)日: 2013-10-30
发明(设计)人: 石榑克范 申请(专利权)人: CKD株式会社
主分类号: G01N23/04 分类号: G01N23/04;G01B15/00
代理公司: 北京三幸商标专利事务所 11216 代理人: 刘激扬
地址: 日本国*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的课题在于提供一种检查装置,其可谋求对电极箔的位置偏移进行检查时提高检查精度。检查装置(10)包括:运送电池元件(1)的传送器(13);对电池元件(1)照射X射线的X射线照射装置(14);对照射了X射线的电池元件(1)的X射线透射图像进行摄像的X射线线传感器照相机(15)。由此,一边将本身的卷轴线(H)方向作为运送方向,沿水平方向连续运送电池元件(1),一边对该电池元件(1)从垂直上方照射扇形射束状的X射线,通过X射线线传感器照相机(15),对在该电池元件(1)实现透射的X射线一维地依次进行摄像,获得电池元件(1)整体的X射线透射图像。接着,根据X射线透射图像检查电池元件(1)的卷绕偏移。
搜索关键词: 检查 装置
【主权项】:
一种检查装置,其检查电气元件中的电极箔向指定方向的位置偏移,该电气元件由正、负两片电极箔重合而得到,其中夹设由绝缘材料形成的分隔件,其特征在于,该检查装置包括:照射机构,该照射机构从与上述指定方向相垂直的第1方向对上述电气元件照射X射线,该电气元件将上述指定方向作为运送方向,通过规定的运送机构而被运送;摄像机构,该摄像机构按照沿上述第1方向与上述照射机构面对的方式设置,并且具有检测元件排,在该检测元件排中,沿与上述运送方向相垂直的第2方向呈直线状设置多个能检测透射上述电气元件的X射线的X射线检测元件,每当以规定量而运送上述电气元件时,该摄像机构依次输出已拍摄的X射线透射图像数据;图像处理机构,该图像处理机构对从上述摄像机构输出的图像信号进行处理,根据上述电气元件的X射线透射图像,检查该电气元件中的上述电极箔向上述指定方向的位置偏移。
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