[发明专利]测量介质布里渊增益线型和线宽的装置及基于该装置测量介质布里渊增益线型和线宽的方法

摘要

测量介质布里渊增益线型和线宽的装置及基于该装置测量介质布里渊增益线型和线宽的方法，涉及测量介质布里渊增益线型和线宽的装置及基于该装置测量介质布里渊增益线型和线宽的方法。它为了解决目前对布里渊线型和线宽的测量存在测量结果可信度低和Stokes信号自身线宽对布里渊线型和线宽的测量结果有影响的问题。本发明通过激光源发射激光脉冲经Stokes光产生系统产生Stokes信号光，由测量系统对Stokes光进行频谱测量，利用斩波器在光路中控制泵浦光通过与不通过，进而控制入射放大后Stokes光或放大前的Stokes光，根据Stokes光频谱放大前后信息来测量介质布里渊线型和线宽，本发明适用于激光非线性领域。

主权项

测量介质布里渊增益线型和线宽的装置，其特征在于：它包括激光源（1）、1/2波片（2）、Stokes光产生系统（3）、第一1/4波片（4）、第一偏振片（5）、斩波器（6）、第二全反射镜（7）、第一全反射镜（8）、第三偏振片（9）、第三1/4波片（10）、放大池（11）、第二1/4波片（12）、第二偏振片（13）、第三全反射镜（14）、测量系统（15）和能量计（16），所述的Stokes光产生系统（3）包括聚焦透镜（3‑1）和SBS产生池（3‑2），测量系统（15）包括衰减器（15‑1）、F‑P干涉扫描仪（15‑2）、光电倍增管（15‑3）、取样积分器（15‑4）和计算机（15‑5），激光源（1）发射脉冲激光入射至1/2波片（2），经该1/2波片（2）透射的脉冲激光入射至第一偏振片（5），经该第一偏振片（5）的脉冲激光被分为反射的S11和透射光P21，所述的反射的S11经过第一1/4波片（4）入射至Stokes光产生系统（3），再由Stokes光产生系统（3）产生的Stokes信号光沿入射光路返回至第一1/4波片（4），经过第一1/4波片（4）透射的透射光P11入射至第一偏振片（5），经该第一偏振片（5）透射的透射光P11顺次经过第一全反射镜（8）、第三偏振片（9）和第三1/4波片（10）后入射至放大池（11）的一端，经第二1/4波片（12）透射的反射光的S12再经第二偏振片（13）反射后入射至测量系统（15）；所述的透射光P21顺次经过斩波器（6）、第二全反射镜（7）、第三全反射镜（14）、第二偏振片（13）和第二1/4波片（12）后入射至放大池（11）的另一端，经第三1/4波片（10）透射的反射光S21经过第三偏振片（9）反射后入射至能量计（16），能量计（16）的能量信号输出端与计算机（15‑5）的能量信号输入端连接；SBS产生池（3‑2）设置在聚焦透镜（3‑1）的焦平面上，衰减器（15‑1）的Stokes信号光输出端与F‑P干涉扫描仪（15‑2）的Stokes信号光输入端连接，F‑P干涉扫描仪（15‑2）的Stokes光频谱信号输出端与光电倍增管（15‑3）的Stokes光频谱信号输入端连接；光电倍增管（15‑3）的Stokes电信号输出与取样积分器（15‑4）的Stokes电信号输入端连接；取样积分器（15‑4）的Stokes积分信号输出端与计算机（15‑5）的Stokes积分信号输入端连接。