[发明专利]一种遍历场景状态图的嵌入式测试用例设计与生成方法在审

专利信息
申请号: 201210316605.2 申请日: 2012-08-30
公开(公告)号: CN102968368A 公开(公告)日: 2013-03-13
发明(设计)人: 郑彦兴;杨广华;李东红;刘宇;房友园;邓世伟;苏晓艳 申请(专利权)人: 中国人民解放军63928部队
主分类号: G06F11/36 分类号: G06F11/36
代理公司: 北京安博达知识产权代理有限公司 11271 代理人: 徐国文
地址: 100101 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提供一种遍历场景状态图的嵌入式测试用例设计与生成方法,采用可以重用的场景模式,在面对大量嵌入式系统需求时,通过对被测系统需求进行建模并划分到不同的场景模式,依据场景模式构建测试场景的状态图,能够以较快的方式设计、生成和修改软件测试用例,提高了测试用例的可重用性,实现对嵌入式系统的有效测试。
搜索关键词: 一种 遍历 场景 状态图 嵌入式 测试 设计 生成 方法
【主权项】:
一种遍历场景状态图的嵌入式测试用例设计与生成方法,其特征在于:所述方法包括以下步骤:步骤1:构建场景树;步骤2:构建场景状态图;步骤3:生成测试用例。
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