[发明专利]利用具有联合线圈结构的天线随钻测量方向电阻率的设备和方法无效

专利信息
申请号: 201210321699.2 申请日: 2012-08-31
公开(公告)号: CN103470249A 公开(公告)日: 2013-12-25
发明(设计)人: 刘策;王忠;吴素明 申请(专利权)人: 刘策;王忠;吴素明
主分类号: E21B49/00 分类号: E21B49/00;E21B47/00
代理公司: 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 代理人: 寿宁;张华辉
地址: 美国舒格兰市杰*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 一种用于进行地层方向电阻率测量的设备包括:具有纵轴和外表面的电阻率仪;部署在外表面下方的第一天线,它具有用来处理轴向电磁波的轴向模式线圈和用来处理横向电磁波的横向模式线圈,形成联合线圈结构;部署在外表面下方的第二天线,它与第一天线在轴向上间隔;以及至少两组分布在外表面上的狭槽。一种相应的用于进行方向电阻率测量的方法包括:在钻孔中旋转电阻率仪;利用电阻率仪中的发射-接收天线组来处理轴向和横向电磁波的叠加;以及根据在接收天线上接收到的轴向和横向电磁波的叠加计算电阻率相关测量值。
搜索关键词: 利用 具有 联合 线圈 结构 天线 测量 方向 电阻率 设备 方法
【主权项】:
一种用于进行地层方向电阻率测量的设备,其特征在于包括:电阻率仪,具有纵轴和外表面;第一天线,部署在所述外表面下方,具有轴向模式线圈和横向模式线圈,形成联合线圈结构,用于处理信号,所述轴向模式线圈具有平行于所述电阻率仪纵轴的中心轴,所述横向模式线圈具有垂直于所述电阻率仪纵轴的中心轴;第二天线,部署在所述外表面下方并且与所述第一天线在轴向上间隔;至少两组狭槽,分布在所述外表面上,其中,第一组狭槽在所述外表面上的延伸方向不同于第二组狭槽。
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