[发明专利]多光束光阱刚度标定装置及其方法有效
| 申请号： | 201210322842.X | 申请日： | 2012-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN102841219A | 公开（公告）日： | 2012-12-26 |
| 发明（设计）人： | 胡慧珠;张威;铁敏强;缪立军 | 申请（专利权）人： | 浙江大学 |
| 主分类号： | G01P21/00 | 分类号： | G01P21/00 |
| 代理公司： | 杭州求是专利事务所有限公司 33200 | 代理人： | 张法高 |
| 地址： | 310027 浙*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种多光束光阱刚度标定装置及其方法。它包括分度台、光纤光阱系统的基片、被捕获的微粒、隔离器、激光器；分度台上设有光纤光阱系统的基片，光纤光阱系统的基片上载有待被捕获的微粒，两激光器发出的激光经隔离器通过光纤与由光纤光阱系统的基片固定相对的光纤相连；最后照射到待被捕获的微粒上，产生光阱。本发明采用残余重力的方法，为多光束光阱提供微小的外力，通过测量平衡位置的位移和残余重力的大小，标定光阱的刚度。多光束光阱具有灵敏度高，刚度小的特点，其刚度可以达到,传统的测量刚度的方法不再适用于这种加速度计刚度的标定。该方法适用于标定由激光的散射力和梯度力所产生的光阱的刚度。 | ||
| 搜索关键词： | 光束 刚度 标定 装置 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种多光束光阱刚度标定装置，其特征在于包括分度台（1）、光纤光阱系统的基片（2）、被捕获的微粒（3）、隔离器（4）、激光器（5）；分度台（1）上设有光纤光阱系统的基片（2），光纤光阱系统的基片（2）上载有待被捕获的微粒（3），两激光器（5）发出的激光经隔离器（4）通过光纤与由光纤光阱系统的基片（2）固定相对的光纤相连；最后照射到待被捕获的微粒（3）上，产生光阱。
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