[发明专利]一种固体电介质材料陷阱参数测量装置及测量方法

摘要

本发明公开了一种固体电介质陷阱参数测量装置及测量方法，采用三电极电晕放电系统对固体电介质材料进行充电，将待测材料试样置于单针电极和金属网电极下方，试样通过导电硅脂粘在金属圆盘电极上，三电极系统对试样充电，充电后，撤掉外施电压，并短路放电，去除表面自由电荷，测量试样的表面电位衰减，通过信号调理电路和数据采集系统计算得出材料的陷阱能级和陷阱密度参数；系统包括：恒温箱体，三电极电晕充电系统，表面电位测量系统，试样预热系统，可旋转电极，温湿度控制系统。本发明为陷阱参数表征聚合物绝缘材料老化状况和聚合物的老化规律研究，为固体电介质表面带电现象及其对沿面闪络性能影响等方面的研究提供一种有效的分析手段。

主权项

一种固体电介质材料陷阱参数测量装置，其特征在于，包括设置在恒温箱（12）内的三电极电晕充电单元和表面电位衰减测量单元；所述的三电极电晕充电单元从下到上包括金属圆盘电极（6）、金属网电极（4）和针电极（3），其中金属圆盘电极（6）接地，金属网电极（4）和针电极（3）分别与偏置直流电源（2）和直流充电电源（1）相连接；所述的表面电位衰减测量单元包括设置在绝缘支架（13）上的电容式静电探头（8），电容式静电探头（8）还依次连接有信号调理模块（9）、数据采集模块（10）以及处理显示模块（11）；待测的试样（5）设置在金属圆盘电极（6）上，金属圆盘电极（6）下面还与可旋转的金属加热盒（7）相连接；在电荷注入时，试样（5）位于金属网电极（4）的下方；在表面电位衰减检测时，试样旋转至电容式静电探头（8）的下方。