[发明专利]一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法无效
| 申请号： | 201210323358.9 | 申请日： | 2012-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN102866342A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 马跃;崔成丽;夏建汉 | 申请（专利权）人： | 欧贝黎新能源科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 226600 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法，它涉及太阳能组件测试技术领域，它的测试方法为：准备3块同种规格的组件，随机抽取1块作为控制件，另外2块作为待测组件；首先将组件进行一定强度的日光照曝晒预处理，预处理结束之后进行初测，包括组件的外观、绝缘性能、电性能、EL测试和湿漏电流测试；试验过程中，记录漏电流数值，试验结束之后，将组件取出恢复一段时间后进行绝缘性能、EL测试、湿漏电和电性能测试。它用来评估太阳能组件承受系统偏压的能力，在合理的成本和时间内，测试太阳能组件承受系统电压、湿度、温度等各种环境因素能力，对减少和预防PID现象等具有指导意义。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 太阳能 组件 电势 诱导 衰减 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种硅太阳能组件的电势诱导衰减测试方法，其特征在于它的测试组件是由铝箔(1)、水膜(2)、玻璃(3)、铝框(4)、太阳能电池板(5)、EVA(6)和TPT(7)组成，玻璃(3)、EVA(6)和TPT(7)依次叠放，且玻璃(3)、EVA(6)和TPT(7)的两端设置有铝框(4)，玻璃(3)与EVA(6)之间设置有太阳能电池板(5)，玻璃(3)上端的铝框(4)之间设置有铝箔(1)、水膜(2)，且铝箔(1)设置在水膜(2)上；测试组件设置在恒温恒湿箱(8)内。
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