[发明专利]检测激光损伤的装置和方法无效

专利信息
申请号: 201210327688.5 申请日: 2012-09-06
公开(公告)号: CN102866163A 公开(公告)日: 2013-01-09
发明(设计)人: 刘晓凤;赵元安;高妍琦;胡国行;李大伟;柯立功 申请(专利权)人: 中国科学院上海光学精密机械研究所
主分类号: G01N21/88 分类号: G01N21/88
代理公司: 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人: 张泽纯
地址: 201800 上海*** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种检测激光损伤的装置和方法,该装置包括白光光源、成像透镜、大面阵CCD、图像采集卡及计算机,本发明可对匀速运动光学元件的激光损伤进行检测,具有在线、直观、实时、高效、自动、可靠的特点。
搜索关键词: 检测 激光 损伤 装置 方法
【主权项】:
一种检测激光损伤的装置,其特征在于包括白光光源(102)、成像透镜(104)、大面阵CCD(105)、图像采集卡(106)及计算机(107),上述元部件的位置关系如下:待测光学元件(103)置于匀速运动的工作台上,所述白光光源(102)从待测光学元件(103)后表面垂直照亮待测光学元件(103)的激光测试区,脉冲激光(101)在所述的待测光学元件(103)前方辐照所述的待测光学元件(103)的激光测试区,在所述的待测光学元件(103)前方依次设置所述的成像透镜(104)和大面阵CCD(105),所述的待测光学元件(103)的激光测试区经所述的成像透镜(104)成像在所述的大面阵CCD(105)的探测面上,所述的大面阵CCD(105)的输出端通过信号线经图像采集卡(106)接所述的计算机(107)的输入端。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院上海光学精密机械研究所,未经中国科学院上海光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201210327688.5/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top