[发明专利]实时检测铁电晶体畴反转的装置无效
| 申请号： | 201210327747.9 | 申请日： | 2012-09-06 |
| 公开（公告）号： | CN102866129A | 公开（公告）日： | 2013-01-09 |
| 发明（设计）人： | 侯培培;职亚楠;孙建锋;刘立人 | 申请（专利权）人： | 中国科学院上海光学精密机械研究所 |
| 主分类号： | G01N21/45 | 分类号： | G01N21/45 |
| 代理公司： | 上海新天专利代理有限公司 31213 | 代理人： | 张泽纯 |
| 地址： | 201800 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 一种实时检测铁电晶体畴反转的装置，该装置包括：氦氖激光器、滤波器、平行光管、第一全反镜、第二全反镜、分光棱镜、成像透镜、CCD耦合器和计算机，本发明无接触，无破坏且具有较高分辨率，既可以准实时监测和定量分析畴结构的动态变化，又可以检测畴结构对外电场的静态响应，获取反转畴结构的二维和三维信息。 | ||
| 搜索关键词： | 实时 检测 电晶体 反转 装置 | ||
【主权项】：
一种实时检测铁电晶体畴反转的装置，其特征在于该装置包括：氦氖激光器（1）、滤波器（2）、平行光管（3）、第一全反镜（4）、第二全反镜（5）、分光棱镜（7）、成像透镜（8）、CCD耦合器（9）和计算机（10），上述元部件的位置关系如下：氦氖激光器（1）输出的633nm光束经过滤波器（2）滤波、平行光管（3）准直后，被分光棱镜（7）分成反射光束和透射光束，该反射光束为探测光束，透射光束为参考光束，探测光束经待测的铁电晶体样品（6）形成物光波，该物光波经过第一全反镜（4）反射后，再经过铁电晶体样品（6）在所述的分光棱镜上与经过第二全反镜（5）反射的参考光束耦合干涉，经成像透镜（8）后在CCD耦合器（9）的探测面上成像为数字全息图，该数字全息图输入所述的计算机（10），进行数据处理，以获得物光波在加电场前后的相位信息，实现对诱导畴反转动态过程的检测。
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