[发明专利]一种阵列基板检测设备有效

专利信息
申请号: 201210328378.5 申请日: 2012-09-06
公开(公告)号: CN102854200A 公开(公告)日: 2013-01-02
发明(设计)人: 赵海生;林子锦;裴晓光;田超;张铁林;林金升;韩金永 申请(专利权)人: 北京京东方光电科技有限公司
主分类号: G01N21/94 分类号: G01N21/94
代理公司: 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 代理人: 黄志华
地址: 100176 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种阵列基板检测设备,用以通过采集到的被测物的图像确定被测物的高度。本发明提供的阵列基板检测设备包括:检测设备本体、设置于所述检测设备本体上的图像采集装置、高度计算装置以及报警装置,所述图像采集装置采集被测物在不同于垂直方向上的至少两个角度上的图像的数据信息,并将所述数据信息传送给所述高度计算装置;所述高度计算装置根据接收到的数据信息,计算出所述被测物的高度;所述报警装置与所述高度计算装置进行通讯,用于在被测物的高度超过预设值时实施报警。
搜索关键词: 一种 阵列 检测 设备
【主权项】:
一种阵列基板检测设备,其特征在于,包括:检测设备本体、设置于所述检测设备本体上的图像采集装置、高度计算装置以及报警装置,所述图像采集装置采集被测物在不同于垂直方向上的至少两个角度上的图像的数据信息,并将所述数据信息传送给所述高度计算装置;所述高度计算装置根据接收到的数据信息,计算出所述被测物的高度;所述报警装置与所述高度计算装置进行通讯,用于在被测物的高度超过预设值时实施报警。
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