[发明专利]利用非整圆天线随钻测量方向电阻率的设备和方法无效
| 申请号： | 201210330971.3 | 申请日： | 2012-08-30 |
| 公开（公告）号： | CN102966348A | 公开（公告）日： | 2013-03-13 |
| 发明（设计）人： | 王忠;任威;王华平;刘远;吴素明 | 申请（专利权）人： | 王忠;任威;王华平;刘远;吴素明 |
| 主分类号： | E21B49/00 | 分类号： | E21B49/00;E21B47/00 |
| 代理公司： | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 11019 | 代理人： | 寿宁;张华辉 |
| 地址： | 美国舒格兰市杰*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及一种利用非整圆天线随钻测量方向电阻率的设备和方法，一种用于进行地层方向电阻率测量的设备包括：具有纵轴和外表面的电阻率仪主体；具有两个开口端并部署在外表面下方的第一天线；部署在外表面下方并且与第一天线在轴向上间隔的第二天线；以及至少一组分布在外表面上的狭槽。一种相应的用于进行方向电阻率测量的方法包括：在钻孔中旋转电阻率仪；利用电阻率仪中的发射-接收天线组来处理电磁波；以及根据在接收天线上接收到的电磁波计算电阻率相关测量值。 | ||
| 搜索关键词： | 利用 非整圆 天线 测量 方向 电阻率 设备 方法 | ||
【主权项】：
一种用于进行地层方向电阻率测量的设备，其特征在于包括：电阻率仪主体，具有纵轴和外表面；第一天线，具有两个开口端，部署在所述外表面下方，其绕线方向垂直于所述电阻率仪主体的纵轴；第二天线，部署在所述外表面下方并与所述第一天线在轴向上间隔；以及至少一组狭槽，分布在所述外表面上。
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