[发明专利]用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统有效
| 申请号： | 201210333501.2 | 申请日： | 2005-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN102890095A | 公开（公告）日： | 2013-01-23 |
| 发明（设计）人： | R.J.勒杜瓦;W.伯托兹 | 申请（专利权）人： | 护照系统公司 |
| 主分类号： | G01N23/04 | 分类号： | G01N23/04;G01N23/201 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 杨思捷 |
| 地址： | 美国麻*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统。这里公开了一种针对潜在威胁扫描目标的方法和系统，其利用自目标散射的光子的能量谱确定目标中平均原子序数和/或质量的空间分布。示范的方法包含：利用光子束照亮目标的多个体元的每一个；确定入射到每个体元上的入射通量；测量自体元散射的光子的能量谱；利用能量谱确定体元中的平均原子序数；以及利用入射通量、体元中材料的平均原子序数、能量谱、以及与体元对应的散射核确定体元中的质量。示范的系统可基于若干体元的平均原子序数和/或质量利用威胁检测试探法来确定是否触发进一步的动作。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 材料 平均 原子序数 质量 方法 系统 | ||
【主权项】：
一种用于分析目标的体元中的材料的方法，所述方法包含：利用光子束照射所述体元；确定所述体元上的入射通量；测量自所述体元散射的光子的至少一个能量谱；利用所述至少一个能量谱确定所述体元中的平均原子序数；利用所述入射通量、所述体元中的所述材料的平均原子序数、所述至少一个能量谱、以及与所述体元相对应的散射核的预定值确定所述体元中的质量；以及基于所确定的质量生成信号。
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