[发明专利]基于线阵CCD的物件表面缺陷检测方法及装置有效
申请号: | 201210334643.0 | 申请日: | 2012-09-11 |
公开(公告)号: | CN102854194A | 公开(公告)日: | 2013-01-02 |
发明(设计)人: | 邹润民;王勋志;郭述帆 | 申请(专利权)人: | 中南大学 |
主分类号: | G01N21/88 | 分类号: | G01N21/88 |
代理公司: | 长沙市融智专利事务所 43114 | 代理人: | 黄美成 |
地址: | 410083 湖南*** | 国省代码: | 湖南;43 |
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摘要: | 本发明公开了一种基于线阵CCD的物件表面缺陷检测方法及装置,该装置通过固定的线阵CCD采集生产线上物件表面的图像信息,然后根据所采集到的图像信息,利用BP神经网络算法,采用逐行检测是否存在缺陷的方法来实现缺陷的识别及缺陷位置的确定;装置包括光学图像采集模块、信号调理模块、A/D转换模块、驱动模块、电源模块、可编程逻辑器件及其外围电路和其软件系统。以上所述装置是以可编程逻辑器件为核心。本发明检测速度高,检测准确率高,且结构简单、成本低廉,适合用于对生产线上物体表面图像单一的缺陷的检测。 | ||
搜索关键词: | 基于 ccd 物件 表面 缺陷 检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
一种基于线阵CCD的物体表面缺陷检测方法,其特征在于,光源发出的光照射在物体表面上,物体表面的图像成像到线阵CCD器件的像元阵列表面,使得线阵CCD器件输出用于表征光强的模拟电压信号S(t);线阵CCD器件中的每一个像数对应一个模拟电压信号S(t);采用BP神经网络对模拟电压信号S(t)进行分类处理,从而识别出物体表面缺陷;所述的BP神经网络的输入层为一个神经元,输入信号为模拟电压信号S(t);所述的BP神经网络的隐含层为一层,包含3个神经元;所述的BP神经网络的输出层为一个神经元,输出0或1信号分别表示当前像素点对应的物体表面区域为缺陷或正常;由于像素点在线阵CCD中的位置与物体表面区域具有一一对应关系,因此,根据输出信号为0的像素点在线阵CCD器件中的位置即能确定物体的缺陷位置所在。
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