[发明专利]半导体封装结构的制造方法无效

专利信息
申请号: 201210335695.X 申请日: 2012-09-11
公开(公告)号: CN103000538A 公开(公告)日: 2013-03-27
发明(设计)人: 沈更新 申请(专利权)人: 南茂科技股份有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L21/60;H01L23/31;H01L23/495
代理公司: 北京市铸成律师事务所 11313 代理人: 孟锐
地址: 中国台*** 国省代码: 中国台湾;71
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摘要: 发明揭露一种半导体封装结构的制造方法,根据本发明一实施例,该方法包含形成复数个导电胶于一导线架阵列的引脚上,其中一凹槽设置于该引脚上与该各导电胶分离一预定距离处;部分固化该导电胶,使得该导电胶处于半固化及黏稠的状态;提供具有复数个凸块的至少一晶片;藉由植入该凸块至该半固化的导电胶以电连接该晶片与该导线架阵列的引脚,其中该凹槽用以容纳与限制该半固化导电胶的溢流;固化该半固化导电胶以紧密接合该晶片;以及形成一封胶体覆盖该导线架以及该晶片。该方法亦可用于预成型(pre-molded)导线架封装。
搜索关键词: 半导体 封装 结构 制造 方法
【主权项】:
一种半导体封装结构的制造方法,该方法包含:形成复数个导电胶于一导线架阵列的引脚上,其中一凹槽设置于该引脚上与该各导电胶分离一预定距离处;半固化该导电胶,使得该导电胶处于半固化或黏稠的状态;提供具有复数个凸块的至少一晶片;电连接该晶片与该导线架阵列的引脚,藉由植入该凸块至该半固化的导电胶,其中该凹槽用以容纳与限制该半固化导电胶的溢流;固化该半固化导电胶以紧密接合该晶片;以及形成一封胶体覆盖该导线架以及该晶片。
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